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原文由 liuning2323 发表:
请教几个能谱的问题， 请高人指点
1. 为什么一般能谱的谱图的横坐标选择20kev,有什么依据吗？10kev是否可以？ 一般k层电子激发所需能量是多少？
2. 能谱分析曲线基线过高是什么原因产生？ 如何改善?
谢谢！
原文由 fengyonghe 发表:原文由 liuning2323 发表:
请教几个能谱的问题， 请高人指点
1. 为什么一般能谱的谱图的横坐标选择20kev,有什么依据吗？10kev是否可以？ 一般k层电子激发所需能量是多少？
2. 能谱分析曲线基线过高是什么原因产生？ 如何改善?
谢谢！
1. 为什么一般能谱的谱图的横坐标选择20kev,有什么依据吗？10kev是否可以？ 一般k层电子激发所需能量是多少？
扫描电镜做能谱分析时要选择加速电压，该电压必须能激发出所有元素的特征X-射线。实践中加速电压为20千伏时能满足要求。如果你知道被测样品的元素组成，只需检测半定量成分，在满足能激发出所有元素的特征X-射线的前提下，当然可以选择其他的加速电压。
激发出某一线系的特征X-射线所需要的能量，略大于该线系的特征X-射线能量。这些是有表可查的。网上可以下载。
2. 能谱分析曲线基线过高是什么原因产生？ 如何改善?
你所指的能谱分析曲线的基线，我理解指的是谱图的背底。它由两部分组成。一是连续X-射线，这个是固有的。第二部分是噪音，可以尽量减少。影响因素比较多。罗列出来供参考。
1．是否有外来光源进入探头，如CCD红外灯、真空规管、LED等其他光源关闭。
2．检查电源接地情况是否良好，尽量使电镜外壳、能谱仪控制器、和电源同地。
3．检查能谱仪信号线是否和分子泵、变压器等强磁场电场缠绕，这有可能引入噪声。
4．进行dicrimination only 校准。
5．尝试进行Conditioer。
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