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原文由 zjhltt830 发表:这种想法不能说是绝对的不正确。还是要看情况，采用全程米氏理论，在处理大颗粒时，相对来说有些复杂，太大的颗粒可能需要采用一些数学技巧，有些仪器厂家在处理大颗粒时，采用了弗朗和费理论，为消除可能产生的误差，在仪器的系统设计上就要采取一些措施。弗朗和费与米氏两种理论的数据差别，采用对数坐标后在图形上能看得更清楚。如果可行，采用全程米氏理论应该是最好的，尽管存在颗粒折射率的变化问题。如果不能采用全程米氏理论，小颗粒与大颗粒的分界点的选取就应仔细的考虑，原则上是越大越好，这跟整个系统的设计有很大的关系。
有的仪器厂家的设备上提供了标准折射率，他们认为测大颗粒的影响不大，这种想法正确吗？测小颗粒提供折射率数据库，那么这个小颗粒与大颗粒的临界点是在什么粒度位置？
原文由 youjian000 发表:原文由 zjhltt830 发表:这种想法不能说是绝对的不正确。还是要看情况，采用全程米氏理论，在处理大颗粒时，相对来说有些复杂，太大的颗粒可能需要采用一些数学技巧，有些仪器厂家在处理大颗粒时，采用了弗朗和费理论，为消除可能产生的误差，在仪器的系统设计上就要采取一些措施。弗朗和费与米氏两种理论的数据差别，采用对数坐标后在图形上能看得更清楚。如果可行，采用全程米氏理论应该是最好的，尽管存在颗粒折射率的变化问题。如果不能采用全程米氏理论，小颗粒与大颗粒的分界点的选取就应仔细的考虑，原则上是越大越好，这跟整个系统的设计有很大的关系。
有的仪器厂家的设备上提供了标准折射率，他们认为测大颗粒的影响不大，这种想法正确吗？测小颗粒提供折射率数据库，那么这个小颗粒与大颗粒的临界点是在什么粒度位置？
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