主题:【求助】x荧光光谱仪做As的曲线

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cgjs
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仪器是理学四型x荧光光谱仪,端窗铑靶,在用国家一级标准物质(GSD和 GSS)做曲线时发现,低含量的As的强度比高含量的还要大,因此在曲线上体现出低含量的点位于高含量点上面,虽然线性很好,但不敢直接拿来测样品,不知道出现这种情况是因为什么,本人刚接触x荧光不久,想向各位专家请教一下,由衷感谢
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