主题:【原创】我在德国了解的电制冷能谱仪的情况

浏览0 回复82 电梯直达
德国工兵
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To:OXFORDWEN:
非常抱歉,你说的.ipj后缀的文件是OXFORD专用的文件,我没有软件打开,抱歉不能帮你的忙!还是请帮你们做样品的人贴上去吧!
duziqiliang
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感谢牛津公司的毒菇九剑贴出了牛津公司的结果,请大家去测试结果贴上去看。我仔细看了看牛津公司的结果,按照我当时的要求给出了不同计数率的定量分析结果,不同计数率的结果非常稳定,不愧为是第六代SDD技术。对比Bruker的结果,我想中国的用户能有自己客观的评价吧。另外,EDAX的结果呢?为什么不象牛津和Bruker一样勇敢的面对挑战呢?
德国工兵
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本来想该铁到此结束的,没想到DUZIQILIANG非得挑起争论,既然duziqiliang这样那就说个明白吧:
牛津的结果和布鲁克相差不是一点点:
举例如下:
1.布鲁克给出了归一化和非归一化的结果,牛津没有
2.布鲁克应版主要求在20KV和10KV不同的加速电压条件下出了结果,牛津没有
3.死时间:明眼人可以看出,牛津的ADD能谱的死时间不是一般的大。20000输入计数的时候已经61%的死时间了。布鲁克的40000输入计数的时候才20%。
4.不得不提分辨率了:牛津的谱图和布鲁克的比较,分辨率差了很多,这个一眼就能看出的,我就不用强调了。
原文由 duziqiliang 发表:
感谢牛津公司的毒菇九剑贴出了牛津公司的结果,请大家去测试结果贴上去看。我仔细看了看牛津公司的结果,按照我当时的要求给出了不同计数率的定量分析结果,不同计数率的结果非常稳定,不愧为是第六代SDD技术。对比Bruker的结果,我想中国的用户能有自己客观的评价吧。另外,EDAX的结果呢?为什么不象牛津和Bruker一样勇敢的面对挑战呢?
德国工兵
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五个注册会员四个是厂商,真的很无聊!
布鲁克一个
牛津两个
EDAX一个
可以开一桌打牌了
katie
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原文由 tao______ 发表:
五个注册会员四个是厂商,真的很无聊!
布鲁克一个
牛津两个
EDAX一个
可以开一桌打牌了



。。。有的时候觉得我们的论坛是非常吸引人的,可以引得这么多牛人们汇聚在这里,大家在这里发言讨论也体现出对我们论坛的重视;但是另一方面,我们也不希望论坛整日硝烟四起,论坛是一个平台,既可以是用户们交流经验和资料的地方,也可以是宣传品牌的场所,但是无论怎样请不要出现人身攻击,和谐社会吗,毕竟这样下去我们会很难办,删贴封号的情况谁也不希望发生,希望大家止于理。谢谢
duziqiliang
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原文由 duziqiliang 发表:
下面是我对德国工兵的答复,我想最后的评判还是留给版主吧。红色是我的答复。
原文由 tao______ 发表:
本来想该铁到此结束的,没想到DUZIQILIANG非得挑起争论,既然这样那就说个明白吧:
牛津的结果和布鲁克相差不是一点点:
举例如下:
1.布鲁克给出了归一化和非归一化的结果,牛津没有
非归一化的结果很容易给,如果牛津没能给出非归一化结果。那大家就比较归一化结果就好啦。
2.布鲁克应版主要求在20KV和10KV不同的加速电压条件下出了结果,牛津没有
不同加速电压的结果我没有看到版主提出这个要求,但不同计数率结果的要求德国工兵并没有给出实验结果。
3.死时间:明眼人可以看出,牛津的ADD能谱的死时间不是一般的大。20000输入计数的时候已经61%的死时间了。布鲁克的40000输入计数的时候才20%。
死时间是和处理时间常数有关的,要想改很容易,但重要的是是否有准确的定量结果。
4.不得不提分辨率了:牛津的谱图和布鲁克的比较,分辨率差了很多,这个一眼就能看出的,我就不用强调了
分辨率,请仔细比较一下牛津和Bruker的谱峰,比如Si,牛津的峰宽是1.86-1.66=0.2keV,而bruker的是2.0-1.6=0.4keV。明明是牛津的分辨率更好嘛。
原文由 duziqiliang 发表:
感谢牛津公司的毒菇九剑贴出了牛津公司的结果,我仔细看了看牛津公司的结果,按照我当时的要求给出了不同计数率的定量分析结果,不同计数率的结果非常稳定,不愧为是第六代SDD技术。对比Bruker的结果,我想中国的用户能有自己客观的评价吧。另外,EDAX的结果呢?为什么不象牛津和Bruker一样勇敢的面对挑战呢?
德国工兵
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回duziqiliang
看你的回复什么东西都很容易,既然容易不妨弄出来给大家看看好不好?期待你很容易的结果。
原文由 duziqiliang 发表:
原文由 duziqiliang 发表:
下面是我对德国工兵的答复,我想最后的评判还是留给版主吧。红色是我的答复。
原文由 tao______ 发表:
本来想该铁到此结束的,没想到DUZIQILIANG非得挑起争论,既然这样那就说个明白吧:
牛津的结果和布鲁克相差不是一点点:
举例如下:
1.布鲁克给出了归一化和非归一化的结果,牛津没有
非归一化的结果很容易给,如果牛津没能给出非归一化结果。那大家就比较归一化结果就好啦。
2.布鲁克应版主要求在20KV和10KV不同的加速电压条件下出了结果,牛津没有
不同加速电压的结果我没有看到版主提出这个要求,但不同计数率结果的要求德国工兵并没有给出实验结果。
3.死时间:明眼人可以看出,牛津的ADD能谱的死时间不是一般的大。20000输入计数的时候已经61%的死时间了。布鲁克的40000输入计数的时候才20%。
死时间是和处理时间常数有关的,要想改很容易,但重要的是是否有准确的定量结果。
4.不得不提分辨率了:牛津的谱图和布鲁克的比较,分辨率差了很多,这个一眼就能看出的,我就不用强调了
分辨率,请仔细比较一下牛津和Bruker的谱峰,比如Si,牛津的峰宽是1.86-1.66=0.2keV,而bruker的是2.0-1.6=0.4keV。明明是牛津的分辨率更好嘛。
原文由 duziqiliang 发表:
感谢牛津公司的毒菇九剑贴出了牛津公司的结果,我仔细看了看牛津公司的结果,按照我当时的要求给出了不同计数率的定量分析结果,不同计数率的结果非常稳定,不愧为是第六代SDD技术。对比Bruker的结果,我想中国的用户能有自己客观的评价吧。另外,EDAX的结果呢?为什么不象牛津和Bruker一样勇敢的面对挑战呢?
zbb1982
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看大家都竞争好激烈,其实探头的分辨率125和140,能有多大的区别,对于测试来说,基本上是一样,因为到分辨率到达150以下后,可以说绝大部分元素已经能分开满足测试要求了,而那些靠得很近的,就算用125的分辨率也分不开,我接触过美国AMPTEK和德国PNsensor两个种SDD的探头,PNsensorSDD的探头是可以到130以下的,美国AMPTEK的只能到145,但是PNsensorSDD用的是一级制冷,对环境要求很高,而美国AMPTEK的是二级制冷,探头很稳定,对环境要求没那么高.关键看你怎么选择了.一般探头供应商给的指标都是实验室指标,真正上了仪器一般都会差一些.当然也有一样的,比如AMPTEK的SDD,在仪器上一样也是145左右.另外探头的分辨率还和信号的成形时间是有关系的,而成形时间直接影响了有效记数,也就是大家所说的死时间.所以只能是调到一个探头的最佳状态,而不能所有的都能兼得的.
hitachi-demo
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zbb1982兄,你研究的可真是很深入了。国内没几个人能明白信号成形时间、死时间以及有效计数的关系这个事情。有效计数才是真正形成结果的计数。死时间太大的话,有效计数降低,采集再多的信号也是在枉然。
另外,关于分辨率想和您探讨一下。让我先猜一下,您是做XRF的?所以您不太关心分辨率,因为XRF优秀的峰背比使得分辨率不再那么重要。但是在电镜上面,面临着一个韧致辐射的问题,使得电镜的X射线信号峰背比不够好。这时优秀的分辨率就比较重要了,另外,X射线低能端的谱峰重叠更严重,好的分辨率这时候的优势更明显。
hitachi-demo
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另外,对于制冷的问题,也想和您讨论一下。我看到的文章的意思是SDD的理想状况是在室温下直接使用。这就需要探头的热噪声相当的低,但是目前的芯片制作工艺还达不到这个水平,如果是室温直接工作,最好的分辨率只能到150eV左右。这就需要用一个低温源去抑制热噪声。从另一个方面来讲,探头几级制冷可能不是关键问题所在,关键是探头的制冷温度以及此时能达到的分辨率。比如都达到140eV的分辨率,如果一个探头只需制冷到零下10摄氏度,而另一个探头需制冷到零下20摄氏度,那前一个探头的芯片绝对要比后一个好,因为从结果就可以知道它的热噪声更低,芯片质量更好。
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