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原文由 learner1999(learner1999) 发表:
谢谢安老师，这个结构背景在测量和校正中都是存在的，怎么抵消不了呢？是因为结构背景对应的吸收波长处的光强氘灯比HCL弱的原因么
原文由 夕阳(anping) 发表:
原本应该是阴极灯观察到的背景信号与氘灯观察到的信号一致，如此（A+B）-B=A 才能成立。但是由于阴极灯是锐线光源而氘灯是连续光谱，加之狭缝的原因，当遇到结构背景时，上面的校正公式就变成了：（A+B1）- B2 ＜A 了。遇到这种情况只有塞曼背景校正方式才可以克服。
另，发现楼主最近对原吸非常感兴趣，频频在原吸版面“求学”，如果真是有此意愿，我建议还是买几本理论书籍好好系统学习一下，比这种零敲碎打学得扎实。
原文由 learner1999(learner1999) 发表:
谢谢安老师，我手头的理论书讲的不够详细，加之理解力不够，所以频频求教.
我的理解是，狭缝是固定的，测的都是狭缝范围内的光强，结构背景是精细谱线，那在锐线光源、氘灯光源中的吸收多少差异，只能由对应波长处的强度决定了，HCL的锐线部分肯定比氘灯波段的强度大，但锐线附近部分光强是怎么呢？
还是我应该这么理解，结构背景的锐线吸收淹没在背景分子的带状吸收中？
再次感谢！
原文由 夕阳(anping) 发表:谢谢安老师的指教！晚辈不才，再认真思考思考。除夕之夜，祝您新年快乐，身体健康！
由于阴极灯的发射的谱线是锐线光（pm级），故所观察到的背景平均值是B1。此时背景校正公式为：（A+B1）- B1 =A
而由于氘灯发射的是连续光谱且狭缝较宽（nm级）的原因，故所观察到的背景平均值是B2；正常时 B1=B2。
当氘灯观察的背景信号中有结构背景的存在时，则B2＞B1；此时背景校正公式是：（A+B1）- B2 =A1；
由于在没有结构背景存在情况下是：（A+B1）- B1 =A；二者相比较 A＞A1。如果结构背景的强度越大，这个差值也就越大。
结论：有结构背景存在的情况下，采用氘灯背景校正的方式会使测试真值下降。这与阴极灯和氘灯的发射强度无关。
另，只有塞曼背景校正方式的仪器可以客服结构背景干扰。
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