	电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）	电感耦合等离子体光谱仪（ICP-OES）	原子吸收光谱仪（AAS）
主要检测指标	KH₂PO₄中As , Fe ,Zn , Cd ,Ni, Co ,Mn, Mg, Cu ,Cr, Na ,Ca, Al, Ba, Pb，限量要求小于0.1ppm
样品性质	主要为高盐样品高基体背景中的重金属离子。
前处理	稀释1000倍以上，以防止高盐样品中K ，P 元素对质谱系统的干扰及污染。	稀释100倍	稀释100倍
	ICP-MS	ICP-OES	火焰AAS 石墨炉AAS
可分析元素	85种	71种	60种（包括间接方法）
分析速度	多元素分析能力 2-3分钟一个样品同时分析30-50种元素	多元素分析能力 2-3分钟分析一个样品一般同时分析30元素	单元素分析一个样品一次分析一个元素15秒	单元素分析一个样品一次分析一个元素3-4分钟
			需要换元素灯和预热	需要换元素灯和预热
检测限（为一般而论，实际不同元素的限有所不同）	ICP-MS （ppt以上）	ICP-AES （Xppb以上）	Flame AAS （X-XXppb以上）	GFAAS （0.Xppb以上）
检测限（为一般而论，实际不同元素的限有所不同）	检出限非常杰出。检出限比较见表二	绝大部分元素较好，检出限较火焰好，但部分元素检出限不如石墨炉杰出。	适用于测量含量较高如ppm级别的元素，检出限	适用于测量含量低的元素，部分元素检出限非常杰出
线性动态范围	可宽至10⁸以上，	线性范围宽（10⁵）,	线性范围相对较窄（10²-10³）,
干扰情况	1，基体干扰，采用稀释方法 2，多原子离子干扰，采用碰撞反应池方法 3，同量异位素离子干扰，选线方法	1，光谱干扰，选线方法 2，基体干扰，稀释和基体匹配	1，基体背景干扰需要不同的扣除背景的方法 2，配制耐盐燃烧头	1，基体背景干扰需要不同的扣除背景的方法如塞曼效应 2，高盐样品对石墨管的损耗大。换管。

ICP-MS的干扰（配置碰撞反应池的必要性）

1．质谱干扰

ICP-MS中质谱存在的干扰（同量异位素干扰，多原子离子），例如⁵⁸Ni 对⁵⁸Fe、 ⁴⁰Ar对⁴⁰Ca、 ⁴⁰Ar¹⁶O对⁵⁶Fe或⁴⁰Ar-Ar对⁸⁰Se的干扰（质谱叠加）。可以采用元素干扰校正方程式（与ICP-AES中干扰谱线校正相同的原理）可用来进行校正，也可选用一些其他同位素谱线、更可以采用“冷等离子体炬焰屏蔽技术”或“碰撞反应池技术”可有效地降低干扰影响。

2．基体酸干扰

必须指出，HCl 、HClO₄、H₃PO₄和H₂SO₄将引起相当大的质谱干扰。Cl⁺ 、P⁺ 、S⁺离子将与其他基体元素Ar⁺ 、O⁺、H⁺结合生成多原子，例如³⁵Cl ⁴⁰Ar对⁷⁵As 、³⁵Cl ¹⁶O对⁵¹V的叠加干扰。克服这个问题的方法有：碰撞反应池技术、冷焰屏蔽技术，或者对样品进行前处理分离基体，如离子交换树脂。

3．双电荷离子干扰

双电荷离子产生的质谱干扰是单电荷离子M/Z的一半，例如¹³⁸Ba²⁺对⁶⁹Ga⁺，或²⁰⁸Pb²⁺对¹⁰⁴Ru⁺。这类干扰是比较少的，而且可以在进行分析前将系统最佳化而有效地消除。

4．电离干扰

电离干扰是由于试样中含有高浓度的第I族和第II族元素而产生的，可以采用内标，或标准加入方法来解决。

5，空间电荷效应

空间电荷效应主要发生在截取锥的后面，在此处的净电荷密度明显的偏离了零。高的离子密度导致离子束中的离子之间的相互作用，形成重离子存在时首先损失掉轻离子，例如Pb⁺对Li。可以采用适当的稀释，或选用适当的内标元素来解决。

附件：

光谱仪器比选.doc 所需积分(20)