原文由 zjhltt830 发表:这种想法不能说是绝对的不正确。还是要看情况,采用全程米氏理论,在处理大颗粒时,相对来说有些复杂,太大的颗粒可能需要采用一些数学技巧,有些仪器厂家在处理大颗粒时,采用了弗朗和费理论,为消除可能产生的误差,在仪器的系统设计上就要采取一些措施。弗朗和费与米氏两种理论的数据差别,采用对数坐标后在图形上能看得更清楚。如果可行,采用全程米氏理论应该是最好的,尽管存在颗粒折射率的变化问题。如果不能采用全程米氏理论,小颗粒与大颗粒的分界点的选取就应仔细的考虑,原则上是越大越好,这跟整个系统的设计有很大的关系。
有的仪器厂家的设备上提供了标准折射率,他们认为测大颗粒的影响不大,这种想法正确吗?测小颗粒提供折射率数据库,那么这个小颗粒与大颗粒的临界点是在什么粒度位置?
原文由 youjian000 发表:原文由 zjhltt830 发表:这种想法不能说是绝对的不正确。还是要看情况,采用全程米氏理论,在处理大颗粒时,相对来说有些复杂,太大的颗粒可能需要采用一些数学技巧,有些仪器厂家在处理大颗粒时,采用了弗朗和费理论,为消除可能产生的误差,在仪器的系统设计上就要采取一些措施。弗朗和费与米氏两种理论的数据差别,采用对数坐标后在图形上能看得更清楚。如果可行,采用全程米氏理论应该是最好的,尽管存在颗粒折射率的变化问题。如果不能采用全程米氏理论,小颗粒与大颗粒的分界点的选取就应仔细的考虑,原则上是越大越好,这跟整个系统的设计有很大的关系。
有的仪器厂家的设备上提供了标准折射率,他们认为测大颗粒的影响不大,这种想法正确吗?测小颗粒提供折射率数据库,那么这个小颗粒与大颗粒的临界点是在什么粒度位置?