就是有也应该很少吧?
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SEM能够提供精确聚焦电子束是提高图像分辨率的前题,还必须考虑SE在样品中的取样深度。在图2中,SE探测器置于样品上方的一侧,它总共接受四部分信号电子:SE1,SE2,SE3,BSE4。其中SE1来自主电子束(PE)入射区,是有用的成像信号,反映微观细节,它的取样深度t=5~10nm,可以形成高分辨率图像;SE2是深处背散射电子(BSE)在出射样品过程中产生的,远离电子束入射区,BSE范围大,可能来自入射电子在样品内的整个扩散区域,取样深度为微米量级,所占比例大,在重原子序数的样品中可达50%以上,形成图像中明亮的背景,降低了图像衬度,影响分辨率;SE3是出射的BSE激发样品室内另部件产生的,所占比例小,对图像影响不大;BSE4是以小立体角直射探测器的背散射电子,对图像形成的阴影效果有贡献。这四种电子出处各异,对图像影响不同,但探测器不能区分,全部收集。
---二次电子像质量
郭莉萍,吴东晓,张大同(华南理工大学测试中心,广东广州510641)
电子显微学报