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原文由 zhuxingqi 发表:请问是否使用了基底?如果没有使用基底,那么第一张谱图的测试过程中可能X-ray并未和样品发生作用,也就是说测试本身的问题,第二张图相对比较可靠。建议采用滴膜的方法制备密实的薄膜,这样才能得到比较好的结果。[/quote样品是沉积在单晶硅上的谢谢
原文由 zhuxingqi 发表:请问是否使用了基底?如果没有使用基底,那么第一张谱图的测试过程中可能X-ray并未和样品发生作用,也就是说测试本身的问题,第二张图相对比较可靠。建议采用滴膜的方法制备密实的薄膜,这样才能得到比较好的结果。