主题:【线上讲座18期】透射电子显微学在材料科学研究中的应用(活动时间:2009年9月9-24日) 已经结束

浏览0 回复99 电梯直达
yangruirui
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 iamikaruk 发表:
原文由 yangruirui 发表:
drizzlemiao您好!我有以下问题想请教,
请问:
图片是Al合金中析出相的高分辨照片的FFT图求助,可视有个地方搞不懂,想请教您


这是Al合金中[100]方向上的一个析出相的高分辨照片,在这个高分辨照片的FFT的衍射图上(图4),我用红色圆圈圈起来的2个分开的斑点是如何造成的?从高分辨照片上看,好像在这个析出相的晶格在一些地方发生了错排(箭头所指),在这里会不会是层错,而这中分开的斑点会是这些层错引起的吗?希望各位高人指点一下



上次在论坛上提到过这个问题 想听听您的看法




来帮助一下版主,这种FFT的点分裂的确很可能是由于层错所引起的。如果情况允许的话,可以做选区衍射,得到的结果比FFT更有说服力





请问您有这方面的文献图片吗?一般来说 层错造成的斑形应该是星芒状的
而这种斑点分裂的情况能有可能是层错造成的吗?
iamikaruk
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
要判断是否edge-on还是需要你对样品界面情况事先有个大概的了解,比如说界面是哪个面,这样就可以从衍射入手从垂直这个面的带轴进行观察
iamikaruk
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 yangruirui 发表:
原文由 iamikaruk 发表:
原文由 yangruirui 发表:
drizzlemiao您好!我有以下问题想请教,
请问:
图片是Al合金中析出相的高分辨照片的FFT图求助,可视有个地方搞不懂,想请教您


这是Al合金中[100]方向上的一个析出相的高分辨照片,在这个高分辨照片的FFT的衍射图上(图4),我用红色圆圈圈起来的2个分开的斑点是如何造成的?从高分辨照片上看,好像在这个析出相的晶格在一些地方发生了错排(箭头所指),在这里会不会是层错,而这中分开的斑点会是这些层错引起的吗?希望各位高人指点一下



上次在论坛上提到过这个问题 想听听您的看法




来帮助一下版主,这种FFT的点分裂的确很可能是由于层错所引起的。如果情况允许的话,可以做选区衍射,得到的结果比FFT更有说服力





请问您有这方面的文献图片吗?一般来说 层错造成的斑形应该是星芒状的
而这种斑点分裂的情况能有可能是层错造成的吗?

您可以搜索一下王中林早期的文章,他有讲到微孪晶的电子衍射。您还可以试下分别套住两套斑点做反付立叶变换
zeoooolite
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
drizzlemiao您好!我有以下问题想请教:
1.对于磁性样品,如何定义及判断?
本人刚刚开始管理透射电镜,目前接触到的样品主要是粉末样品,其中有些样品中参杂过渡金属元素,如Co,Ni,Cu,Mn等,这类样品对电镜会造成怎样的影响?是否只要是含有过渡金属元素的样品都按磁性样品看待?

谢谢
透镜操作工
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 drizzlemiao 发表:
分析点在视场中心吗?如果样品上有比较多的有机物,很有可能在点分析的时候发生发生分解形成污染。你应该试试暗场模式,分析完后把倍数降低一些,看看原来的扫描区域是否出现一个白色的矩形。如果出现,那就是碳污染。

成分分析点在视场中任意位置均有可能发生黑斑。如果进行了面扫描,明场像可见黑色矩形框。结合成分分析常见Si,O等异常元素,怀疑样品制备过程中有异物引入,而碳污染也是很有可能的。
你所指的暗场模式目的是什么呢?(为了减少电子束辐照吗?)
再次感谢您的提示!
透镜操作工
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 lxcnenu 发表:
drizzlemiao您好!我有以下问题想请教:
1.对于磁性样品,如何定义及判断?
本人刚刚开始管理透射电镜,目前接触到的样品主要是粉末样品,其中有些样品中参杂过渡金属元素,如Co,Ni,Cu,Mn等,这类样品对电镜会造成怎样的影响?是否只要是含有过渡金属元素的样品都按磁性样品看待?

谢谢


我来讨论一下,请方家批评指正。
可以搜索到本论坛已经对磁性样品曾进行过了深入讨论(如http://www.instrument.com.cn/search/BBSArchive_1847410_1.htm),google搜索也可见武汉理工大学不做磁性样品的通知(http://cmra.whut.edu.cn/bbs/dispbbs.asp?boardid=8&Id=1241)。而我本人主要从事钢铁材料的TEM分析测试,感觉磁性材料没有想象的那么恐怖,虽然也有发生样品掉在镜筒里的事情。正像版上各位前辈所指出的,薄膜样品要紧固,粉末样品最好能吹走粘附不牢的或者将其包覆固定等等。虽然大家已经讨论过,但我还是不清楚TEM观察时关闭物镜的效果到底如何,争取尽快试一下:)
另外,我很怀疑上述通知提及的说法:“磁性样品很容易磁化电镜的“心脏”部件-物镜极靴, 增大像散和图像畸变, 造成电镜分辨率下降, 结果会使一台高性能电镜变成有缺陷的低档次电镜。”感觉相对物镜磁场,样品的磁性对极靴的软铁影响应该是很小的。
蓝莓口香糖
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 200422126 发表:
一直看到有的文章将界面转到edge-on的状态以观察取向,目前不知道什么样的状态时edge-on的状态,与其它非edge-on状态在衬度上有什么差别?

另外看到有人用Morie条纹观察界面取向,但一般在界面上很难看到Morie斑,请教各位大侠看Morie条纹有什么方法?

就是界面和电子束平行,这样在沿光束方向没有重叠,比较容易观察。Morie纹需要晶体上下重叠,各自有至少一组面间距比较接近的晶面。这两组晶面方向和间距越接近,越容易观察到条纹。所以,观察界要事先对界面状态有所了解,仔细设计实验方案。
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
Last edit by drizzlemiao
蓝莓口香糖
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 bsgjq 发表:
原文由 drizzlemiao 发表:
分析点在视场中心吗?如果样品上有比较多的有机物,很有可能在点分析的时候发生发生分解形成污染。你应该试试暗场模式,分析完后把倍数降低一些,看看原来的扫描区域是否出现一个白色的矩形。如果出现,那就是碳污染。

成分分析点在视场中任意位置均有可能发生黑斑。如果进行了面扫描,明场像可见黑色矩形框。结合成分分析常见Si,O等异常元素,怀疑样品制备过程中有异物引入,而碳污染也是很有可能的。
你所指的暗场模式目的是什么呢?(为了减少电子束辐照吗?)
再次感谢您的提示!

你们的仪器真空度不够高,或者样品处理得不够干净。那个黑色矩形框是碳污染。暗场模式是指STEM暗场像,看污染物更容易一些。
salhii
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
drizzlemiao您好!我有以下问题想请教,
请问钢铁磁性样品在做透射电镜是会有些什么困难?如何解决为好?
蓝莓口香糖
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 salhii 发表:
drizzlemiao您好!我有以下问题想请教,
请问钢铁磁性样品在做透射电镜是会有些什么困难?如何解决为好?

样品磁性会干扰物镜本身磁场,观察的时候会出现聚焦困难,像散不稳定。有时候还会出现倾转困难,甚至样品破碎。对于聚焦和像散,只能是在观察位置调节好后再观察,移动样品后重新调节。其它的问题只能尽力避免,不能解决。
猜你喜欢 最新推荐 热门推荐
品牌合作伙伴