原文由 haoyang8003(haoyang8003) 发表:
请各位高手分析一下:我使用的是德国布鲁克低温红外光谱仪,测试硅片分析硅中硼磷含量时,不同此下样结果不同,有时差别较大,有时还会出现数据异常现象。请教高手,这是样品问题还是仪器问题?应该怎么处理?
原文由 mars_0529(mars_0529) 发表:
bruker 27、37、70采用的都是立体角镜干涉仪,此类干涉仪依据光的反射定律设计,只能对外界振动进行部分补偿,对外界温度的变化引起的热胀冷缩造成反射镜的微小型变是不能进行补偿的,你说的现象正是由此引起。曾进有用同类型干涉仪做原位反应的用户在抽真空时发生干涉图抖动的情况。80V相比较273770在干涉仪上采用先进一步的技术,但由于采用真空方式达到近红外不可避免的要加入真空泵做为配套装置,同时低温系统也要有分子泵或者机械泵来抽真空,所以整个仪器的使用环境振动对测试的影响是非常大的。
另外还有ASTM要求的测试方法,NP或者CO含量测试,对于样品制备是有严格规定的,如果样品没有按照标准制备测试的结果自然会出人意料。
当然具体什么原因还需要进一步分析,你可以把测试的图谱发给我看一下。
mars0529@gmail.com