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主题：【求助】求助：漂移问题如何解决？

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发表于：2010/03/17 15:26:33 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我要在直径为25微米的Cu丝上电镀一层约0.5微米的Au，打算通过剖切纵截面测量覆层的厚度及均匀性。但是由于丝太细，导电性较差，做扫描电镜时容易出现图像漂移，请教如何解决这个问题！
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2010/3/17 17:57:40 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
有谁知道吗？
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驰奔
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2010/3/17 21:08:50 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
25微米做纵切面，一般的手段确实比较难弄。难道镀膜只在细丝的端部吗？
如果是横截面相对比较容易处理，按照金相制样的方式把一簇用镶样机镶嵌在树脂中，研磨抛光后看bse像，应该很容易。
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2010/3/18 13:47:48 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 驰奔(srd2009) 发表:
25微米做纵切面，一般的手段确实比较难弄。难道镀膜只在细丝的端部吗？
如果是横截面相对比较容易处理，按照金相制样的方式把一簇用镶样机镶嵌在树脂中，研磨抛光后看bse像，应该很容易。


首先感谢您的相助！
整根丝的表面都有镀层，但是25微米的丝强度比较低，集束时容易变形，觉得横截面样品不好做才想用纵截面。没有更好的办法了吗？
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2010/3/18 17:25:34 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
怎么没人回答我？
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毒菇九剑
sshlxf
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2010/3/19 13:59:01 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
可以考虑用FIB切截面，然后用SEM观察，最好用双束比较方便
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Last edit by sshlxf
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2010/3/22 20:47:12 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 毒菇九剑(sshlxf) 发表:
可以考虑用FIB切截面，然后用SEM观察，最好用双束比较方便


不好意思！请问“FIB”是什么意思？非常感谢！
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wuthering
wuthering
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2010/3/23 9:29:10 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
聚焦离子束(FIB)（Focused Ion Beam）
主要特点1．高精度及高切削速度。
2．微样品制备成为可能。
3．降低了对样品的损伤。
4．更宽的束流能量范围

不过楼主我觉得你说的样品导电性差难以理解。。。。
觉得三楼的方法可以试试

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rpgads
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2010/3/24 15:29:13 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这个有点难阿。楼上说的镶样法可行。
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