主题:【求助】XPS电子能谱与能量散射X-射线光谱仪EDXA的区别

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sunfhiae
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如题:电子能谱XPS与能量散射X-射线光谱仪EDXA有什么区别?得出的结果是不是重复的?对于新材料的表征,有必要二者同时做么?请指导一下
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七月冰
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两者信号深度不一样,xps的信号深度为2-6nm,EDX信号深度为1微米。对于体材料的表征,做哪个都行,表面或薄膜材料就只有xps。但要注意,很多EDX对于原子序数低的元素无法检测到。
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2010/5/6 10:03:16 Last edit by xps_aes
xgq_2001
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1,两者的本质不同点在于:xps接受的是电子信号。EDX接受的是特征x射线,且其对轻元素不灵敏,小于C得元素不能被EDX 检测。
2。信号深度不同,正如楼上所说的,EDX信号来自微米级深度。
3。EDX有时候会出现合峰,逃逸峰(Li漂移Si检测器本身缺陷,无法避免)等,xps则没有
4。使用的信号激发源不同,Xps用x-ray,而EDX用电子束
5。EDX对表面污染不灵敏,样品制备要求不严格,用手触摸样品表面,一般不会影响edx分析结果,而xps则不可以
6。对于不导电的样品,edx无能为力,xps则毫无问题。
7。一般情况下,无需同时作,xps是更高级的表面分析仪器,远胜过edx在成分分析方面,但是要分析一些微小区域(如亚微米级),xps则无能为力,只有用edx了
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