主题：今天刚照的高倍照片

原文由 threedaysin 发表:

原文由 renxin 发表:

原文由 threedaysin 发表:
目前我照高倍，仅限于粉末样，因为好分散，喷完金，导电性好
而且我把WD降到了最低限度
正好相反，  看来您是用的  SE1检测器， WD应该 降低， 3MM太短了， 一般  场发射 都会 配备 INLENS，您的有吗，
照片倍数很高， 但没有聚焦好，  像散很少，    对比度偏低，  这个和WD 不对有很大关系

啊？你说3mm太短是说wd降的过低了？如果不低真的看不清啊
最近我又尝试把束流加大了，并且使用了OL aperture WOBB，进一步调整聚焦但高倍下还是不容易看清楚，当然喷金没喷好也是有关系的吧，那些比较细的地方肯定喷不到了
我也没辙了，功夫不到家啊，毕竟是初学者，我理论方面了解的不多，各位踊跃给与指导啊

高手，我想问一下！它表面上的颗粒可以用什么方法确认？做EDs????

原文由 saintchen 发表:
日本电子的场发射?应该能比这个清楚很多.既然喷了金,加速电压可以再高点,spotsize 可调,就在参数调节截面上,有个选择spotsize的地方.一般调到7或8的位置即可.
喷金时间不要太长,否则不知道这个颗粒的表面是本来面目还是金颗粒了.

原文由 konglingdong 发表:

原文由 threedaysin 发表:

原文由 renxin 发表:

原文由 threedaysin 发表:
目前我照高倍，仅限于粉末样，因为好分散，喷完金，导电性好
而且我把WD降到了最低限度
正好相反，  看来您是用的  SE1检测器， WD应该 降低， 3MM太短了， 一般  场发射 都会 配备 INLENS，您的有吗，
照片倍数很高， 但没有聚焦好，  像散很少，    对比度偏低，  这个和WD 不对有很大关系

啊？你说3mm太短是说wd降的过低了？如果不低真的看不清啊
最近我又尝试把束流加大了，并且使用了OL aperture WOBB，进一步调整聚焦但高倍下还是不容易看清楚，当然喷金没喷好也是有关系的吧，那些比较细的地方肯定喷不到了
我也没辙了，功夫不到家啊，毕竟是初学者，我理论方面了解的不多，各位踊跃给与指导啊

高手，我想问一下！它表面上的颗粒可以用什么方法确认？做EDs????

问题是我知道这些颗粒是什么阿，你是说你也有类似的问题？而且你想确认这些东西是什么吗？那我告诉你，用EDS是不行的，EDS我这边的最大倍数是3000倍，这个倍数下采用点测量的测量区域，相对于表面的颗粒也是很大了。

除非你可以保证你一点下去，就点在了颗粒上，而不是下面的表面。

原文由 sunnysky 发表:
从照片上看，表面的微粒像是喷金过厚形成的