主题:请教测粉末荧光的问题

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chinawhirl
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1、我发现这里关于测粉末的讨论很少,想请教几个一直困扰我问题,我用一个铁材料(大概是)的样品架,在孔里装上粉末后测,在入射1.5测发现没有光谱峰,而调到3就出现了370和460左右两个发光峰,但是拿别人的粉末测也是这两个,拿下样品后测也是,我认为是不是杂散光的峰啊!
2、测粉末需要注意些什么,需不需要校正啊
3、溶液可以用比色皿测,不知悬浊液可不可以用比色皿测

我们实验室好几个人都急等着测,盼有关朋友帮忙!先谢了!


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xiaoben412
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悬浊液应该没问题,也可以把它分散在不产生荧光的高聚物膜中测吧
fxcszx123
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悬浊液可以用比色皿进行测定,但粉末测定我也没有做过,你测到的光谱应该是散射光谱
wenchunlin
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我也是测固体的!如果是正常发射的话,一般调大或者调小入射狭缝对粉末的发射位置没有什么变化,只是强度的影响,越宽越强,测发射的时候出射狭缝不能调太大,越大越不精确的!你那种情况先把出射狭缝调小一点,看是否有变化,如果还没有的话,考虑先做紫外试试,看看它的吸收!可能是撒射或者没有把样品装好哦!卡好没有????
欢迎交流!
wxsdu
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fxcszx123
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我在测定时也发现有这种情况,应该是杂散光,可能是样品架的与光路的角度有问题吧,你的架子是自己做的还是随机附件呢?
lbwycx
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强烈建议成立一个关于测定固体粉未材料的论坛!
无机荧光材料的测定是非常重要的!!不只是分子发光啊
auto1235
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原文由 chinawhirl 发表:

1、我发现这里关于测粉末的讨论很少,想请教几个一直困扰我问题,我用一个铁材料(大概是)的样品架,在孔里装上粉末后测,在入射1.5测发现没有光谱峰,而调到3就出现了370和460左右两个发光峰,但是拿别人的粉末测也是这两个,拿下样品后测也是,我认为是不是杂散光的峰啊!
2、测粉末需要注意些什么,需不需要校正啊
3、溶液可以用比色皿测,不知悬浊液可不可以用比色皿测

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我认为是样品支架反射激发光造成的.
入射1.5没有的原因是:你可以将激发波长设在0nm或者500左右,我估计由于狭缝过小或仪器及调整的原因,激发光根本不在正确的光路上.
chinawhirl
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我采用的样品架是仪器自带的,我后来认为也是杂散光造成的,但是可是由于杂散光与我样品文献中提到的峰位基本重合,因此比较困扰!希望大家与我多多交流!qq53375910 注明 荧光
chinawhirl
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我个人认为不是发光峰的移动,而是原来光弱,所以未出现;等后来狭峰调大了,才越来越明显了!
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