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主题：样品什么时候需要导电处理？

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dualbeam
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2006/11/26 16:33:00 11楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
关于样品放电会损坏能谱探头的事,我也想知道,因为我曾问过EDAX的工程师,他们都说不会.
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renxin
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2006/11/27 16:47:00 12楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 zhquanming 发表:
[为什么会损坏能谱探头呢？

是啊， 我也不明白， 除了不明白为什么会损坏探头， 我还不明白为什么高倍时尤其会放电， 还有为什么叫放电，不叫充电。

我们在平时观察此类物质时也存在放电现象，至于“为什么叫放电，不叫充电”，好像应该这么解释：对于金属类导电物质，电子束轰击时会通过底座将样品表面的电子导走；而对于非金属类物质，电子束轰击过程会在样品表面形成电荷的累积，无法释放掉，就好像是从样品内部释放出来的一样，我想这可能是“放电”的一种解释吧，不知是不是准确，还请各位评判。
至于会损坏探头，我也不懂，还请指教！
电荷无法释放掉， 确实是充电，所以叫充电现象， CHARGING  EFFECT，好像是从样本中释放出来的一样， 所以叫放电，这种解释我第一次听说，哈哈
是时候澄清一下了，电荷积累叫充电，电荷释放叫放电，积累到一定程度后会发生强行放电，放电形式多样化，无定式。
所以我们只讲充电，不讲放电， 英文文献上，只会看到CHARGING EFFECT，从未看到 DISCHARGING EFFECT。
虽然说电镜是综合学科，但讨论起来也应该注意用词的精确度，以免造成概念混淆。
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xuexinrui
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2006/11/27 16:54:00 13楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 narcisus 发表:
不导电样品不喷镀的话，高真空观察时极易发生放电，尤其是在倍数较高的时候。
另外如果配备了能谱，放电有可能会损坏能浦探头

放电和能谱探头的损坏是什么原理，可以说得详细一点吗？多谢指教
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renxin
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2006/11/27 17:15:00 14楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 dualbeam 发表:
关于样品放电会损坏能谱探头的事,我也想知道,因为我曾问过EDAX的工程师,他们都说不会.

看来NARICUS 朋友像要说的是，当电荷强行释放的过程中，有可能会选择能谱探头为路由，电荷有可能会通过探头被导地，因而有可能损坏探头。
我尚未遇上这类案例，看来理论上讲是存在的。
自己给自己解释了一下，希望大家一起探讨。
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