主题：【讨论】直读光谱仪的背景等效浓度BEC

原文由 yushushi(yushushi) 发表:
目前，可以找到的具体的扣除光谱干扰的数学模型，大概可以分成两类：
1、直接用浓度乘以系数计算“背景光等效浓度”的算法，如“表观浓度法”
2、用光强乘以系数计算出“背景光强”，用测量光强减去背景光强得到的值，代入曲线去计算“校正浓度”。
目前来讲，我这里能找到的是比较老的版本的最基本的校正方法，我想在ICP那边应该可以找到更多的干扰校正方法，这里上传一种给您作为参考。

      总体上来讲，我认为，获得确切的“干扰校正系数”，需要各类有针对性的样品作为数学模型的支持。如果没有实际当中所需要的样品作为基础，任何数学模型只能是空中楼阁，而干扰系数，基本为“不可求”。

原文由 yushushi(yushushi) 发表:
问题：BEC是检出限的30倍这个结果，是某一次的个体观察现象，还是计算设定的？“背景得等效浓度”的概念应该是针对“表观浓度”和“真实浓度”提出的。确切的说，“表观浓度”=“背景等效浓度”+“真实浓度”。而背景等效浓度又是如何得到的呢？总体来说，需要软件的算法和检测硬件以及特殊样品的配合来完成。“背景等效浓度”的实质其实是背景光强代入元素通道相应的曲线所计算出的不存在的“浓度”，换句话说，这个值实际上是由光谱背景造成的浓度测量的非偶然的“系统误差”。从背景光的分类来看，解决方法一般分为两种：
1、针对连续光谱背景以及杂散光背景而言，在测量通道附近的空白地带设置“背景通道”可以解决此类问题。这个“背景通道”的采集器可能需要与“测量通道”的采集器的光强响应度建立函数关系（如能使用性状相同的采集器，效果最好，如没有，需要在同一个通道位置更换两采集器分别建立同样光强梯度的输出信号强度的曲线，找到两采集器之间的补偿系数。
2、针对谱线重叠干扰而言，需要首先判定该波长周围，仪器分辨率分辨能力之外的区域内，还有可能出现多少种元素的谱线。在从中找出实际上该材质样品当中含有的元素的谱线。找到对应的元素（该元素本身需要具备测量通道）。需要找到针对干扰元素测量通道光强与被干扰通道当中该元素产生的干扰光强之间的关系，得到校正系数。由此，可以根据干扰元素的测量通道测出的数据结果和校正系数做运算得到“谱线干扰光强”或“谱线干扰背景等效浓度”。

原文由 shguan(shguan) 发表:

原文由 yushushi(yushushi) 发表:
问题：BEC是检出限的30倍这个结果，是某一次的个体观察现象，还是计算设定的？“背景得等效浓度”的概念应该是针对“表观浓度”和“真实浓度”提出的。确切的说，“表观浓度”=“背景等效浓度”+“真实浓度”。而背景等效浓度又是如何得到的呢？总体来说，需要软件的算法和检测硬件以及特殊样品的配合来完成。“背景等效浓度”的实质其实是背景光强代入元素通道相应的曲线所计算出的不存在的“浓度”，换句话说，这个值实际上是由光谱背景造成的浓度测量的非偶然的“系统误差”。从背景光的分类来看，解决方法一般分为两种：
1、针对连续光谱背景以及杂散光背景而言，在测量通道附近的空白地带设置“背景通道”可以解决此类问题。这个“背景通道”的采集器可能需要与“测量通道”的采集器的光强响应度建立函数关系（如能使用性状相同的采集器，效果最好，如没有，需要在同一个通道位置更换两采集器分别建立同样光强梯度的输出信号强度的曲线，找到两采集器之间的补偿系数。
2、针对谱线重叠干扰而言，需要首先判定该波长周围，仪器分辨率分辨能力之外的区域内，还有可能出现多少种元素的谱线。在从中找出实际上该材质样品当中含有的元素的谱线。找到对应的元素（该元素本身需要具备测量通道）。需要找到针对干扰元素测量通道光强与被干扰通道当中该元素产生的干扰光强之间的关系，得到校正系数。由此，可以根据干扰元素的测量通道测出的数据结果和校正系数做运算得到“谱线干扰光强”或“谱线干扰背景等效浓度”。

实际BEC的绝对值就是：在您使用的工作曲线上要分析的表观含量的切线与含量轴的截距！该BEC就是0含量（表观含量）的光强。我说的是火花直读。ICP可能是已经扣除了干扰光强了（实际上是不应当扣除干扰光强的）。有什么不同意见可以来邮件：shguan@foxmail.com  老关