主题：【讨论】这张PE公司Optima 5300DV、热电公司iCAP 6500 DUO、Varian公司730-ES对比表客观吗？

原文由 acronis(acronis) 发表:
      呵呵，没具体用过Iris，但确实是二次曝光，这在thermo的资料里面就有提及，而且从它用的光栅色散率和光学系统的焦距上看就是只能二次曝光来实现所有光谱带的测量。
      thermo的切换测量时间很短，你不应能感觉出来的。
      如果在紫外的区域，就不需要二次曝光，一次曝光就好了。默认就是紫外曝光。
      icap是大概以235nm作为分界线吧。
      告诉你一个小秘密，icap为神马第一次曝光要从167-235nm，是因为icap的CID的靶面长度只有14.6mmx14.6mm，167-235nm正好在棱镜色散方向上覆盖了14.6mm的长度。然后icap第二次曝光从190-847nm也正好棱镜方向能覆盖住14.6mm的宽度。或许你会问，为神马不是均衡对称的波长分割？这是因为棱镜在紫外色散大，而可见光部分色散小而决定的哦。这个秘密可不能随便告诉别人哦。
      不过我有个问题，在长波方向的级次，其波长的分布早早就超过了14.6mm，超过了CID就没法检测，thermo如何实现对这些被截去的长波进行检测，我就狠狠好奇了。还希望热电的工程师出来解答。
   

原文由 damoguyan(damoguyan) 发表:
热电--但缺陷在于是单光路系统，无法一次覆盖全部的波长范围，必须通过二次曝光来解决。这可能就不是大家想的能一次性同时从紫外到可见光(167nm-847nm)全部的波长都能同时测量了。

原来用过热电的IRIS，很大的那种，没感觉是二次曝光，可能是我选的线全在紫外区把。但热电这这个CID检测器有个很好的优点，就是你用标准曲线法来测试样品时，你进一次样品，可以在那个曝光图上看到样品中所有能测元素的曝光点（方法设置中未选的元素谱线也会出现，只要样品中有），这对定性有很好。
  瓦里安，PE的检测器都不行的，请问这个专家这是为什么呢？也就是CCD,SCCD,CID的区别

原文由 diange(diange) 发表:
专业 4楼 是做什么的 还是某个仪器公司的工程师 牛！！！

原文由 acronis(acronis) 发表:
    过奖了，我本来就是做光学研究的。最近在研究ICP全谱直读的光路，希望有一天国人能用上自己的全谱直读光谱仪，不过这是任重而道远了。

    知己知彼，百战不殆。要做好国产仪器，务必要认真调研国外各个厂家的技术优势、劣势和特点，从中寻找能够为我所用的精华。

    其实经过又一个月的学习，我发现PE可能根本没法像热电那样提供半全谱图，更不用说全谱图，只是说能同时测量若干个元素，这个跟全谱直读光谱仪的英文原意倒是很贴切，而且也不需要像热电那样做二次曝光。

    我算了算，热电、PE和瓦里安的成本真的很低，一台ICP能卖到70-90万，而实际物料成本估计都不到20万rmb，这几家公司太tm黑了。说来说去还是我们中国人不够争气。

    唉，加上我在其他帖子里说的内容，我已经成了热电黑，PE黑和瓦里安黑了。

    这些公司的销售不会在计算机前面对我咬牙切齿吧，其实大家都是中国人，没必要为洋人打太多的工。

原文由 diange(diange) 发表:
专业 4楼 是做什么的 还是某个仪器公司的工程师 牛！！！

原文由 acronis(acronis) 发表:
我个人认为极其不客观，通篇都是在吹捧PE而贬低thermo。客观的说，PE的分辨率是比Thermo的分辨率理论上要好一些，毕竟PE的焦距更长，光学元件多，能够做更多的光路优化。
      但要注意的是，这些相对优点都是建立在PE采用的极其复杂的双光路系统上。举个例子，PE的f-number是F/6.7，而热电的是F/8。初一看，PE能收集更多的能量，但是PE是双光路系统，经过施密特系统时，二者都必须损失一定的光能，所以总体比较起来，PE的f-number虽然大，但是在收集光能方面毫无优势可言，而且还没算PE经过那么多光学系统损失光能的帐呢。（看到某PE的宣称资料吹嘘自己f-number大是优势，忍不住跳出来驳斥一下）
      而且f-number过大，又导致系统像差变大，需要使用非球面镜（轮胎镜）来纠正像差。非球面镜可是很贵贵的。
      热电是单光路系统，结构简单，F-number小，使用球面镜就足够达到非常好的像差平衡。但缺陷在于是单光路系统，无法一次覆盖全部的波长范围，必须通过二次曝光来解决。这可能就不是大家想的能一次性同时从紫外到可见光(167nm-847nm)全部的波长都能同时测量了。不过实际上大部分场合并不需要那么严格的实时全谱测量。所以就看大家怎么理解所谓的全谱了，如果大家都理解全谱是一次性不经过任何切换把所有光谱从头到尾采集下来，那thermo就不符合这种想法了。
      曾经看到有份资料认为Thermo要二次曝光，需要切换棱镜来实现，因此造成光路不稳定。这属于无稽之谈，且不论棱镜切换是否稳定，难道PE自己切换狭缝时就能十分确信自己的光路系统能很稳定吗。实际上这种光学切换系统发展到现代已经足够的成熟可靠。退一步，PE的光路系统比热电复杂一倍，怎么不提自己可能存在的稳定性缺陷？
      瓦里安的光路系统跟thermo差不多，也是单光路系统。但是瓦里安的光栅的分辨率不行。中阶梯光栅的角色散率其实决定于衍射角，PE和热电的是64度，瓦里安是44度，在其他参数差不多相同的情况下，这就决定了瓦里安的分辨率先天不足。曾有瓦里安的资料宣称光栅刻线密高那就分辨率高，所以他们的性能比热电和PE优异。这理论对于普通光栅说得过去；但是对于中阶梯光栅而言，只能说写这段话的人对中阶梯光栅的应用理论完全无知。不过瓦里安使用特殊结构的探测器来适应出来光谱级次的分布，也确实厉害，应该能够实现全谱直读。
      从三家的中阶梯光栅参数上，也可以看出有趣的现象。瓦里安的中阶梯光栅出来的光谱是长而疏，因此需要订制相应的探测器来匹配这些光谱；热电则是短而密，自己的探测器靶面又小，需要二次曝光，我觉得thermo真不能算大家心目中的“全谱直读”，但其实对于检测大部分元素的场合，也真的足够用了；PE则是据二者之间，采用复杂的双光路来实现全谱检测，尽管我前面说它光路过于复杂，但我打心眼里佩服能做到这样的程度，其性能也是非常强悍的。
      热电的售价跟PE差不多，但是因为是前述的单光路系统，结构简单，成本比PE估计低得多，MB，真不知道这些年赚了多少钱。
      我是做光学的，从我做光学仪器的角度上看，如果你不差钱追求极致的性能，比如很好的分辨率和快速同时的测量，那么PE确实是首选；如果价钱有限，其他方面要求也不高，或许热电和瓦里安都会是一个很好的折中的选择吧。     
     

原文由 bigbighead(bigbighead) 发表:

原文由 acronis(acronis) 发表:
      呵呵，没具体用过Iris，但确实是二次曝光，这在thermo的资料里面就有提及，而且从它用的光栅色散率和光学系统的焦距上看就是只能二次曝光来实现所有光谱带的测量。
      thermo的切换测量时间很短，你不应能感觉出来的。
      如果在紫外的区域，就不需要二次曝光，一次曝光就好了。默认就是紫外曝光。
      icap是大概以235nm作为分界线吧。
      告诉你一个小秘密，icap为神马第一次曝光要从167-235nm，是因为icap的CID的靶面长度只有14.6mmx14.6mm，167-235nm正好在棱镜色散方向上覆盖了14.6mm的长度。然后icap第二次曝光从190-847nm也正好棱镜方向能覆盖住14.6mm的宽度。或许你会问，为神马不是均衡对称的波长分割？这是因为棱镜在紫外色散大，而可见光部分色散小而决定的哦。这个秘密可不能随便告诉别人哦。
      不过我有个问题，在长波方向的级次，其波长的分布早早就超过了14.6mm，超过了CID就没法检测，thermo如何实现对这些被截去的长波进行检测，我就狠狠好奇了。还希望热电的工程师出来解答。
   

原文由 damoguyan(damoguyan) 发表:
热电--但缺陷在于是单光路系统，无法一次覆盖全部的波长范围，必须通过二次曝光来解决。这可能就不是大家想的能一次性同时从紫外到可见光(167nm-847nm)全部的波长都能同时测量了。

原来用过热电的IRIS，很大的那种，没感觉是二次曝光，可能是我选的线全在紫外区把。但热电这这个CID检测器有个很好的优点，就是你用标准曲线法来测试样品时，你进一次样品，可以在那个曝光图上看到样品中所有能测元素的曝光点（方法设置中未选的元素谱线也会出现，只要样品中有），这对定性有很好。
  瓦里安，PE的检测器都不行的，请问这个专家这是为什么呢？也就是CCD,SCCD,CID的区别

既然是用中阶梯光栅加棱镜，得到的就是而为谱图，即用不同的级次来测量不同的波段，所以不同波段的分辨率是有区别的。另外，Thermo的二次曝光，其实没有什么关系。

原文由 acronis(acronis) 发表:
      我做光谱分析，用CCD比较多，对CCD比较熟。但我对CID和SCD都不是很了解。
      我也在慢慢了解CID的一些应用特点。     
      不过，现代的CCD已经越做越好，比如深度制冷型-背照式-深度耗尽层-紫外增强型CCD，或者是EMCCD和ICCD都有着非常优异的性能。
      比如拉曼光谱、单光子荧光成像，都是用到上述CCD。
      如果说价格体现性能，那么这些CCD可比CID和SCD贵多了。
      其实瓦里安和PE理论上完全可以给你类似thermo的曝光图的，但厂家为什么不给，我个人也是很奇怪。
      莫非他们心虚？
     

原文由 damoguyan(damoguyan) 发表:
热电--但缺陷在于是单光路系统，无法一次覆盖全部的波长范围，必须通过二次曝光来解决。这可能就不是大家想的能一次性同时从紫外到可见光(167nm-847nm)全部的波长都能同时测量了。

原来用过热电的IRIS，很大的那种，没感觉是二次曝光，可能是我选的线全在紫外区把。但热电这这个CID检测器有个很好的优点，就是你用标准曲线法来测试样品时，你进一次样品，可以在那个曝光图上看到样品中所有能测元素的曝光点（方法设置中未选的元素谱线也会出现，只要样品中有），这对定性有很好。
  瓦里安，PE的检测器都不行的，请问这个专家这是为什么呢？也就是CCD,SCCD,CID的区别

原文由 bigbighead(bigbighead) 发表:
首先，LZ的资料太老，PE已经是7300，Varian已经到了Agilent，也早不是Vista。
4楼的分析很专业，是纯光学的。我是直接从使用的角度看：
1、分辨率，不要去讨论光栅条数、衍射角度，我们就看实际的光学分辨率效果。既然都是全谱直读的仪器，分辨率实在没有多大的区别。普通的应用基本上都没有问题，如果碰上稀土元素，都歇菜，只能用JY或岛津的。如果一定要比的话，PE略微胜出。
2、灵敏度，几家的区别也不大。测量P、B，Varian是三家中最好的。
3、稳定性上，应该是Thermo最好。
4、故障率上，Varian最低。软件操作也是最简单，Agilent收购后，服务应该是三家中最好的
5、检测器，PE7300的检测器是攻击最多的，近20年了吧，有变化吗？