主题:【已应助】求两篇中文文献

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2001smile
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【序号】:1
【作者】:
袁隐  李达汉
【题名】:硅片四探针电阻率精密测量误差分析
【期刊】:


《电子学报》 1988年01期

【年、卷、期、起止页码】:1988年01期
【全文链接】:http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTotal-DZXU198801019.htm

【序号】:2
【作者】:
石雅珍 
【题名】:


MS303晶片电阻率测试系统的校准方法及不确定度的分析

【期刊】:

《第二十二届中国(天津)'2008IT、网络、信息技术、电子、仪器仪表创新学术会议论文集》 2008年

【年、卷、期、起止页码】:2008年
【全文链接】:http://cpfd.cnki.com.cn/Article/CPFDTOTAL-TJDZ200809001020.htm
推荐答案:abcdefghijkl123回复于2011/05/18
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