主题：【求助】新手请教探测器分辨率问题！谢谢！

原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
这好象有数学模型吧

原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

原文由 p_nicholas(p_nicholas) 发表:

原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

个人理解时间常数增加，则指数衰减越平缓，对于模拟多道来说更容易精确的找到峰值，而对于数字多道检测技术来说，梯形成型后，梯形的平顶部分更平滑，从而提高了检测精度，自然分辨率也会更好。当然为了得到更好的分辨率，在数字多道检测技术中可以选择增加梯形成型时间来实现，这样造成的后果就是死时间会急剧上升。

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

原文由 p_nicholas(p_nicholas) 发表:

原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

个人理解时间常数增加，则指数衰减越平缓，对于模拟多道来说更容易精确的找到峰值，而对于数字多道检测技术来说，梯形成型后，梯形的平顶部分更平滑，从而提高了检测精度，自然分辨率也会更好。当然为了得到更好的分辨率，在数字多道检测技术中可以选择增加梯形成型时间来实现，这样造成的后果就是死时间会急剧上升。

检测精度好，分辨率就好，可以这样理解不/？

原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
这好象有数学模型吧

原文由 zbb1982(zbb1982) 发表:

原文由 njalvin(njalvin) 发表:
        看书时有几句话不理解。
        1，为什么探测器面积愈小，分辨率愈好？
        2，面积固定情况下，时间常数增加，光子测量量得更准，相应的分辨率也更好，为什么？
        求高手指点下！
        不胜感激！

1，没有探测器面积越小，分辨率越好的说法，在探测器里Si-pin的探测器是这样，应该是面积大了工艺上的问题，在SDD探测器分辨率就和面积没有关系了，只能说探测器面积越大，需要制冷的面积就越大，需要的制冷电流就大，本身的发热量也比较高。
2，X荧光测试结果的波动大小和测试的记数率有关，记数率越高测试波动就越小，因为X荧光是单位时间内的随机触发时间，测试时间越长，统计涨落越小，测试结果更稳定，但是和分辨率没有关系。分辨率只和探头的种类和电路的参数设计有关。

不知道楼主看的那本书，能否介绍下。