主题:【求助】我请教各位一个关于岛津GC-MS 2010 Plus的一些问题!

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linkenni
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      最近我的GC-MS出现了这样的情况,我做标样的时候用scam扫描是正常的,但同样的方法我用SIM扫描,做出来的峰不是分叉就是没有峰值,所有的东西的都是换新的,但还是同样的结果,各位有谁遇到这样的情况吗?请指教一下。
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yzguo
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七宝
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是不是SIM的时间选择不是很合理?还有一个原因,就是样品浓度太大了,SCAN的灵敏度低点,没有饱和,而SIM的灵敏度高,峰饱和了造成的分叉。
雾非雾
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原文由 七宝(vargas1983) 发表:
是不是SIM的时间选择不是很合理?还有一个原因,就是样品浓度太大了,SCAN的灵敏度低点,没有饱和,而SIM的灵敏度高,峰饱和了造成的分叉。


嗯,我们一般SCAN时都用10甚至20ppm的标品,而在SIM方式时一般是用1ppm的标品。
linkenni
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我SIM用10ppm,他的峰值才10的四次方
用SCAN的峰值能达到10的六次方啊
linkenni
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原文由 七宝(vargas1983) 发表:
是不是SIM的时间选择不是很合理?还有一个原因,就是样品浓度太大了,SCAN的灵敏度低点,没有饱和,而SIM的灵敏度高,峰饱和了造成的分叉。
我做2ppm的也是有分叉,有时候不能出峰.
arbudu
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分叉表示峰中心信号降低,而SCAN正常又是标品说明不是分离不好或手性共流出,那么问题在MS的可能性大,有没有可能是其他碎片离子由于没有SCAN而滞留从而阻碍了SIM离子的自由行程,造成信号降低,而风头风尾由于目标物浓度低,而可以检测正常的风信号。计算SIM信号强度和SCAN信号强度比,是否符合SIM特征碎片风强度比是否可有一些提示?请轻拍
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