主题:【第六届原创】辉光与激光的PK,不要错过!

浏览0 回复46 电梯直达
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镀层厚度在20微米以下的倒是用SEM做过 不太好说分析结果怎么更靠谱吧 镀层毕竟是微米级的 SEM制样的时候可能会造成损失的
云☆飘☆逸
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chauchylan
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有没有用EDX扫描?可以与GD-OES镀层分析曲线比较一下,或许能得出许多结论
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15楼 你说的EDX是指用荧光吗 那没有深度标准样品该怎么做 如果你有方法可否共享下
wangfangxia
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chauchylan
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通常SEM都配有EDX,在用SEM放大观察时,可同时用EDX对镀层厚度进行分析,准确确定镀层与基体的界面,你可以问一下做SEM/EDX的人,他们应都知道.
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那我知道你说的什么了 上面说过这种方法观察的是截面 也就是说要经过制样的 这种观察做过20微米以下的  

倒是X荧光方法没太做过 X荧光也可以测定深度 但是要标样的 没有办法做
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