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X射线荧光光谱仪（XRF）

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仪器社区 > X射线仪器 > X射线荧光光谱仪（XRF）帖子详情

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主题：XRF漂移较正的效果不理想

浏览0 回复20 电梯直达

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polab

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2006/4/28 16:26:00 11楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

压片的可以做监控样，漂移校正要使用熔片样最好，仪器校正和曲线校正楼主要分开。

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whoami

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2006/4/28 18:41:00 12楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 lailai 发表:
用融溶法制样可以长期用来作漂移校正样

也不一定，熔融法做的玻璃片表面常常会变得越来越毛糙，结果会与刚开始有较大的差别。保存的好的话可以用的时间长点。用之前用棉球沾酒精擦一下，等酒精完全挥发后再做！玻璃片易吸潮，注意保存在干燥器内。

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仆人

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2006/4/30 10:48:00 13楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

看了楼上各位的发言很受启发。在下认为，所以会出现楼主所述的情形，是因为工作曲线已做成很久了，其间可能一、X射线管强度发生了变化；二、分光晶体因受潮及X射线辐照而发生强度变化，由于重、轻元素使用不同的分光晶体，因此受影响程度不同；三、标准样品因污染、磨损、潮解等影响，状态已同工作曲线初做成时有一定差别；四、做漂移校正无法奏效。所以楼主明智的选择就是做检量线更新。其好处是只需重研磨试样，选择检量线更新模式（或称回归曲线更新），测一遍标样，无需作任何校正、计算，即得到与原工作曲线采用相同校正方法的更新后的曲线。当然，相信其效果与楼主刚做成工作曲线时一样。

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polab

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2006/5/10 11:32:00 14楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 xrfsply 发表:
看了楼上各位的发言很受启发。在下认为，所以会出现楼主所述的情形，是因为工作曲线已做成很久了，其间可能一、X射线管强度发生了变化；二、分光晶体因受潮及X射线辐照而发生强度变化，由于重、轻元素使用不同的分光晶体，因此受影响程度不同；三、标准样品因污染、磨损、潮解等影响，状态已同工作曲线初做成时有一定差别；四、做漂移校正无法奏效。所以楼主明智的选择就是做检量线更新。其好处是只需重研磨试样，选择检量线更新模式（或称回归曲线更新），测一遍标样，无需作任何校正、计算，即得到与原工作曲线采用相同校正方法的更新后的曲线。当然，相信其效果与楼主刚做成工作曲线时一样。

最好曲线使用一定时期后要完全更新。

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lg391

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2006/11/13 4:18:00 15楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 lyyy0412 发表:
用压好的片做漂移校正，好像不太准确吧。一般仪器都会自带漂移校正用的样品的。不过是玻璃片，比较稳定。

就应当用玻璃片来做校正的，一般设备都有自带的标样，可以长期使用。

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mgy

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2006/11/28 18:28:00 16楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

发表一点看法：

漂移校正是为了校正仪器变化的，但是仪器不变化的话为什末要校正呢？

你说的情况有几种可能：
第一：你的样片发生了变化，吸潮？变质？污染？

第二：你用的是两点校正，选择的校正点不合适，两点差距太小，外来误差大于仪器实际漂移

建议不要天天进行漂移校正，只要标样确认没有问题就不要校正！
你的2100是多道仪器，一般几个月是不用漂移校正的！

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