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ID：chenjianfeng
行业：其他
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原文由 驰奔(srd2009) 发表:原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:这种探头收集的信号跟通道电子没有关系呀。electron channel contrast imaging ECCI 这个用的不太是地方。
原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:这种探头收集的信号跟通道电子没有关系呀。
ID：drizzlemiao
ID：srd2009
原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:11楼的左下图如果只用二次电子成像会是什么样子？这个图里已经可以看到条纹了，只是黑点太多。我觉得黑点跟背散射电子关系很大。如果把背散射电子去掉，得到的图像应该跟右下比较接近，可能会多一些黑点的分布。如果是二次电子使用A-B模式，可能图像更有趣。但是这个探头可能做不到。
原文由 奔跑的蜗牛(chenjianfeng) 发表:原文由 驰奔(srd2009) 发表:原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:这种探头收集的信号跟通道电子没有关系呀。electron channel contrast imaging ECCI 这个用的不太是地方。这个衬度应该是和通道衬度相关，因为同样条件下用其他模式看到的图像完全不一样，从查到的文献来看，基本上是这个结论。[/quote]给出的这个证据正好说明ECC不是看到0.8nm高度起伏形貌的机理。如果高度起伏形貌存在ECC中那么就不应该再用A-B模式，而应该在左边图像中出现。
ID：sshlxf
原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:右下图是BSE+SE的A-B模式，我觉得还应该有个SE的A-B图像会更有意思一些。左上应该是BSE的A+B图像，右上是BSE的A-B图像。A-B抑制了BSE信号对原子序数的依赖，强化了形貌的影响。在A+B模式下，原子序数的效应太大，把形貌的影响完全淹没了。我脚着是这样。
原文由 毒菇九剑(sshlxf) 发表:你说的ECCI和传统的ECP---电子通道花样elctron channel pattern有什么关联呢？
原文由 驰奔(srd2009) 发表:原文由 奔跑的蜗牛(chenjianfeng) 发表:原文由 驰奔(srd2009) 发表:原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:这种探头收集的信号跟通道电子没有关系呀。electron channel contrast imaging ECCI 这个用的不太是地方。这个衬度应该是和通道衬度相关，因为同样条件下用其他模式看到的图像完全不一样，从查到的文献来看，基本上是这个结论。[/quote]给出的这个证据正好说明ECC不是看到0.8nm高度起伏形貌的机理。如果高度起伏形貌存在ECC中那么就不应该再用A-B模式，而应该在左边图像中出现。那不是高度起伏引起的衬度，而是边缘电子离域引起的通道衬度。
原文由 奔跑的蜗牛(chenjianfeng) 发表:原文由 驰奔(srd2009) 发表:原文由 奔跑的蜗牛(chenjianfeng) 发表:原文由 驰奔(srd2009) 发表:原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:这种探头收集的信号跟通道电子没有关系呀。electron channel contrast imaging ECCI 这个用的不太是地方。这个衬度应该是和通道衬度相关，因为同样条件下用其他模式看到的图像完全不一样，从查到的文献来看，基本上是这个结论。[/quote]给出的这个证据正好说明ECC不是看到0.8nm高度起伏形貌的机理。如果高度起伏形貌存在ECC中那么就不应该再用A-B模式，而应该在左边图像中出现。那不是高度起伏引起的衬度，而是边缘电子离域引起的通道衬度。长见识了，谢谢！这个反差主要与方向有关，所以A-B以后，才会显示出来，与信号强度关联不大是吧？
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