2011年北京光谱年会顺利举行仪器信息网讯 为了更好的交流及促进光谱分析技术应用及其学科的发展,由北京理化分析测试技术学会光谱学会主办的“2011年北京光谱年会”于2012年1月10日在北京国家图书馆举办。会议邀请到了19位行业专家就原子光谱和分子光谱分析技术最新动态、光谱分析仪器方面的新进展等问题为大家作专题报告。200余名来自科研院所、质检机构、知名仪器公司等单位的代表参加了此次会议。
http://www.instrument.com.cn/news/20120112/073066.shtml在本次年会上,岛津推出新款高性能UV-VIS分光光度计UV-2600 /2700
报告题目:岛津紫外产品在薄膜行业中的应用
侯艳红女士在报告中首先展示了岛津UV产品系列,并介绍了其在薄膜行业中的应用。其中微小光束测定装置-UV-3600光斑可达1.5mm, SS3700-微小样品测定夹具也为薄膜分析提供了很大的方便。
UV-2700/2600采用岛津独有技术Lo-Ray-Ligh衍射光栅使其具有超高精度,具有超低杂散光、超宽测光范围等特点,其中UV-2600的波长测量范围为220nm-1400nm。
SolidSpec -3700/ SolidSpec-3700DUV,采用三个检测器,新加的InGaAs实现了近红外区的超高灵敏度。新的三维光路、超大样品室设计、可用于大型样品的测定,可以实现大样品无损测试。