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ID:huang150429
行业:其他
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ID:happydfli
原文由 huang150429 发表:是的,S、P是以固溶体的形式存在钢基体中,但是我并不是想看S、P的形貌,而是钢的枝晶干和二次枝晶臂处P、S含量的差异(也就是枝晶偏析),因为二次枝晶间距只有几个微米,S、P含量又很低,只有几十个ppm,所以很难,不知到采用什么方法好。
ID:sysmith
原文由 sysmith 发表:问问版主,用TEM+EELS是否可行?
ID:chenjianfeng
ID:sshlxf
原文由 huang150429 发表:我正在做材料的显微偏析(S和P),去年我用EPMA做,可是EPMA的成像不好(比不上扫描电镜),我没办法分辨微区(几个微米左右),另外材料中S含量很低,只有几十个ppm左右,SEM打不出来。我想问问大家,我这种情况,用场发射扫描电镜可以实现吗?如果不行,还有什么其他的方法可以实现啊?谢谢,我就靠这个博士毕业呢,呵呵。。。
原文由 huang150429 发表:当时做EPMA的时候,他的成像系统比较不好,在屏幕上很难区分枝晶干与枝晶臂,另外几十个ppm的含量,可以打出来,但是不准确,所以没办法,因为做偏析,如果打的不准(分辨率应该在几个ppm,偶认为),就没有任何意义了,嘿嘿。。。