主题:【求助】ZEISS 电镜低电压下有暗影的问题

浏览0 回复26 电梯直达
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小M
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原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
没有下文是对大家的不够尊重,久而久之别人会对你提的问题不予理睬。
当然,这种提问基本无效,因为没有反馈
testing_service
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其他电镜貌似也有这种现象。
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2012/3/30 22:33:37 Last edit by testing_service
wbslandy
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原文由 小M Orz=3(mitchell_dyzy) 发表:
图片怎么不显示了

我觉得可能还是工作距离太小了,没有下文了?


===========不好意思,发表此求助帖后,连续几天看没什么反应,加上近期有点忙,就没上来了,所以没及时回复你, 感到非常抱歉。
            工作距离稍大点也有此黑斑现象, 您知道的,像蔡司这种sem, 工作距离大了的话,它的inlens探头的二次电子信号很弱的。
wbslandy
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原文由 小M Orz=3(mitchell_dyzy) 发表:
图片怎么不显示了

我觉得可能还是工作距离太小了,没有下文了?

没有下文是对大家的不够尊重,久而久之别人会对你提的问题不予理睬。


            ============不好意思,此求助帖刚发出来的那几天,因回复的帖我感觉好像不太对,就没回复了,后一忙就没及时再上网了。非常抱歉啊!
          您提到的合轴问题,我已经让供应商仔细地进行了机械合轴和电子合轴,但仍然有黑斑现象。 我们的日本电子的JSM6700 和FEI的450S Dual-Beam FIB/SEM上的低电压情况下在3万至5万倍下也有此黑斑现象。
wbslandy
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原文由 jmijmlgddh(jmijmlgddh) 发表:
请问楼主的样品室镶样的吗?


          =========不是灌胶镶嵌的样品。 不过因是半导体样品,导电性并不是纯金属那样好,但我们用2KV或5KV下拍照都不会charging放电。 仅仅0.5kv下几万倍的时候有此现象。
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2012/3/30 23:17:28 Last edit by wbslandy
wbslandy
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原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
原文由 小M Orz=3(mitchell_dyzy) 发表:
图片怎么不显示了

我觉得可能还是工作距离太小了,没有下文了?

没有下文是对大家的不够尊重,久而久之别人会对你提的问题不予理睬。


                ===========>>>>前几天我们尝试着改变一些条件,目前有所改善。
                      我们在日立的S-5200 Super-SEM 上样品台带冷阱的情况下用0.5KV测试,黑斑明显弱化;用另外一台也是带冷阱的日本电子的JSM7500 SEM确认液氮冷阱的效果,黑斑也不明显了。
                      另外我们动用FEI公司的450S Dual-Beam FIB-SEM,尝试改变束流由50pA---25pA---13pA---8pA逐渐减小, 发现黑斑也逐渐减弱, 到8pA时基本看不到黑斑了。

                      在解决此问题的时候,我听一位香港的做SEM资深人士说,SEM腔体内的有机污染物最好用等离子清洗机进行清理, 各位,有人听说过等离子Plasma清洗腔体的吗? 目前我还没见过哪个供应商用此手段,只看到他们用吸尘器清理chamber内的污染物。
                      感谢大家的热情参与。
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2012/3/30 23:51:32 Last edit by wbslandy
fengyonghe
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小M
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终于有进展了。那看来就是碳沉积的问题。用等离子清洗器可以一定程度缓解,在上海FEI纳米港见过,两台,都已经装在电镜上。本版有个帖子专门介绍的,以前还是置顶的,可以站内搜索一下,好像是杭州一家公司代理的。
wbslandy
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原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:


回复Fengyonghe老师:
这是一个巨磁阻产品,
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2012/4/1 8:31:15 Last edit by wbslandy
lich_dc
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原文由 wbslandy(wbslandy) 发表:
原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
原文由 小M Orz=3(mitchell_dyzy) 发表:
图片怎么不显示了

我觉得可能还是工作距离太小了,没有下文了?

没有下文是对大家的不够尊重,久而久之别人会对你提的问题不予理睬。


            ============不好意思,此求助帖刚发出来的那几天,因回复的帖我感觉好像不太对,就没回复了,后一忙就没及时再上网了。非常抱歉啊!
          您提到的合轴问题,我已经让供应商仔细地进行了机械合轴和电子合轴,但仍然有黑斑现象。 我们的日本电子的JSM6700 和FEI的450S Dual-Beam FIB/SEM上的低电压情况下在3万至5万倍下也有此黑斑现象。


很大可能性的积碳问题,而你的关于日本电子和蔡司都有这个现象,解释是只要是高真空积碳问题都会存在

而你的关于为什么0.5kV明显,高压下不明显的解释是: 这种积碳现象多数在表面, 而电压越低表面信息越明显也就越容易看到这种黑方现象。电压越高表面信息“损失”掉所以不明显

而这种积碳现象一部分来源于样品本身以及样品与电子束作用,另一部分来源于样品室内部本身的碳积累,当电子束扫描时会诱导再沉积。 所以保持电镜长期干净度很重要,特别现在电镜分辨率越来越高,而大家很多样品都是往低压去走,配置一台高真空防污染装置的Plasma Cleaner是很有必要的啊
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