主题:【已应助】英文文献1篇

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tico
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【序号】:1
【作者】:
David C. Joy
【题名】:A model for calculating secondary and backscattered electron yields
【期刊】:Journal of Microscopy.
【年、卷、期、起止页码】:Volume 147, Issue 1, pages 51–64, July 1987
【全文链接】:http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1111/j.1365-2818.1987.tb02817.x/abstract
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