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主题：【分享】纳米测量标准器研制成功

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发表于：2012/07/20 16:08:49 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
作者：曲照贵    文章来源：中国化工报    更新时间：2012-07-19

　　近日，天津市检验检疫局研制的纳米尺度测量标准器获得国家实用新型专利授权。该产品采用国际先进的聚焦离子束刻蚀技术，具有分辨率高、线距均匀、材料稳定、设计独特等特点，可以满足不同形状样品的比对测量需求，有效解决了纳米尺度更准确的测量问题，填补了纳米材料领域标准器国内空白，达到国际先进水平。


　　据介绍，该纳米标准器分辨率高，具有78纳米的标准周期线距，远小于目前公认的S1000标准器1000纳米的线距，是真正意义上的纳米级标准器，并且能够保证每个刻度周期线距的均匀性和一致性，使最小线距整数倍的距离都可以作为标准长度来比对，材料膨胀系数低、性能稳定，设计将横线、竖线、点阵和圆环形状的标准刻度融于一体，可以满足不同形状样品的比对测量需求。

　　随着纳米科技飞速发展，用于测量纳米尺度的高分辨率测量器具一直是人们所关注的课题，为了得到更准确的测量结果，需要有更接近于样品尺度的标准物质。
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2012/7/26 11:13:45 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
纳米级别的一般只能去标定检测设备的吧？不然显示产品中，对于尺寸测量的运用的多吗？
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