主题:【分享】X荧光光谱仪定量分析

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sipaike
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X射线荧光光谱法进行定量分析的根据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is为Ci=100%时,该元素的荧光X射线的强度。根据上式,可以采用标准曲线法、增量法、内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似,否则试样的基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化,会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收,也会改变荧光增强效应。例如,在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时,由于一次X射线的激发会产生Nika荧光X射线,Nika在样品中可能被Fe吸收,使Fe激发产生Feka。测定Ni时,因为Fe的吸收效应使结果偏低,测定Fe时,由于荧光增强效应使结果偏高。
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sonne86400
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能量色散x荧光光谱仪是以中共半定量分析仪器,仪器可以快速无损检测不需要任何前处理 但是做不到定量分析
qianguiyun1
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原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:
能量色散x荧光光谱仪是以中共半定量分析仪器,仪器可以快速无损检测不需要任何前处理 但是做不到定量分析

也不能武断的说XRF做不到定量分析。就像楼主所说只要试样的组成与标样比较接近,测出来的数据还是可靠的。
XRF_INFO
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EDXRF怎么做不到定量分析?你做过吗?还是你不会用啊?
该帖子作者被版主 albert8009222积分, 2经验,加分理由:鼓励探讨
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