主题：【原创】Axios荧光仪日常故障及处理办法

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浅谈Axios X射线荧光仪日常故障处理

李畅¹ 张靖峰² 孙永生³ 岳丽华⁴

（内蒙古大唐国际再生资源开发有限公司，内蒙古，呼和浩特，010206）

摘要：对帕纳科Axios型波长散射X射线荧光光谱仪经常出现的故障进行了分析，并提出解决措施。

关键词：x荧光光谱仪； 故障处理；分析

引言：


自1895年德国物理学家伦琴发现x射线、1896年法国物理学家乔治发现x射线荧光，20世纪40年代末，弗里德曼和伯克斯应用盖克计数器研制出波长色散x射线荧光光谱仪以来，x射线荧光光谱仪进入蓬勃发展的阶段^[1]，无论是对于我国各类高等研究院还是工业企业，荧光仪均显示出无可比拟的优越性。但目前x射线荧光光谱仪绝大部分需要进口，比如占市场份额相对较大的是赛默飞世尔、荷兰帕纳科、德国布鲁克、日本理学和岛津等，这些厂家对荧光仪的售后维护收费均价格不菲，造成x射线荧光光谱仪测试成本间接增高，因此，对荧光仪的日常故障处理及维护就成了非常必要的一项工作。

我公司2008年引进荷兰帕纳科的Axios波长色散型x荧光光谱仪，主要承担着我公司粉煤灰、硅酸钙、电解质分子比、生料浆、熟料等重要中间控制产品的测试工作，在将近五年的使用过程中，也出现过一般报警和致命报警问题，现总结如下：

1真空度问题

真空度是荧光仪测试数据能否准确的一个关键条件，它的作用是为了保证分析气氛的稳定，避免分析过程中空气对轻元素(S、P、Mg等)X 射线的吸收[2]，从而保证分析数据的稳定与准确，并且根据检修经验，荧光仪最容易出现故障的地方就是真空度：

1.1开样品盖时真空度不好，关样品盖时真空度好

首先判断样品托盘密封圈有灰尘，降低电压电流到20KV\10mA，关掉高压，在SUPERQ里把Vacumm转换为outside，然后退出SUPERQ进入TCM4400点击M进入，然后点击F3，使plunger下降，然后用沾了无水乙醇的丝绸布擦拭暗圈和样品杯底部的密封圈，然后关掉主机电源擦拭托盘上面的密封圈，再退出TCM，送上电源，打开SUPERQ即可。

1.2开样品盖时真空度好，关样品盖时真空度不好

盖子上面的密封圈老化或脏掉，此时要用蘸酒精的丝绸布对样品盖上的密封圈进行擦拭，如果经擦拭后或更换后仍然不好，有可能是电磁阀漏气，需要更换电磁阀。
1.3开样品盖和关样品盖时真空度均不好
检查P10气流量是否往上升，首先怀疑窗口膜破，如果F真空-F空气≥0.4L/h，即为窗口膜破；再次是怀疑漏气，如真空泵油位不够、油脏，要对真空泵进行维护；最后再找其他原因。窗口膜照片如下：
1.4开盖时真空很好，整个测试过程也无异常，直到测样结束卸载开盖瞬间，真空度突然增加，连续测试几个样品后，真空度甚至能从几个上升到一百以上
主要是进样臂没有顶到位造成开盖瞬间漏气，此时应检查滑块是否磨损需要更换，或者气缸的力量不够，如果现象不是很严重可以试着在暗圈密封圈的底部铺一层生料带暂时维持。
               

图1 窗口膜

2 塔盘转速超时（turret time out）
照片如图2，容易引起turret超时的原因大致如下：
2.1气缸下去不够低
此时应该考虑punlger是否有灰尘阻塞，影响滑动，造成气缸上下时间过长，导致气缸下降不到位，引起turrent转动超时。
2.2试样高出杯子
试样掉出杯子导致样品杯旋转不到位，此时应退出软件，进入TCM4400，手动将介质转换为空气后，再把样品盖打开，看样品卡在样品仓的状态，如果是旋转不到位，即会导致turret 超时。
2.3皮带松
需要拆开仪器，稍微松动一下固定电极两头的螺丝，然后把皮带往外拉，这一步骤

的目的是使皮带收紧，增加皮带对电极的拉力，加快turret的转动，缩短转动时间。
2.4电极坏
主要考虑电极对x光不敏感，此时应增大激光头的信号电压，调整信号电压强度，当调至最大时仍然出现报警，则只能从厂家重新购买备件。


图2 turret

3 荧光仪跳高压后自动关闭
3.1 turret状态不正常
即是上述2中的4种原因导致turret出现问题后，高压跳停，针对turret出现的问题进行维修即可。
3.2气缸驱动装置（活塞）下降不到位
此时应退出软件，进入TCM4400将活塞升降杆进行伸长或缩短调整（把活塞升降杆螺丝往里或者往外旋转，），保证样品杯下降时间与设定值一致。
3.3滑块轨道变形
由于进入颗粒性灰尘等原因造成滑片轨道变形，此时需要将该轨道卸下，然后经打磨并人为把轨道扩大。
3.4光管参数发生变化
在测轻金属元素时所需的低电压高电流达不到条件，导致测轻元素时高压跳停现象，此时需要专业工程师通过调节高压发生器来调整。高压发生器照片如图3。


图3 高压发生器

结论：
总之，x射线荧光光谱仪因为使用环境、使用人等条件的不同出现各种问题，因此在应用过程中不断分析并进行总结是非常必要的，它将作为以后处理各类故障的重要依据。
参考文献：
[1] 吉昂，陶光仪，卓尚军，罗立强. X射线荧光光谱分析 北京：科学出版社，2003:1—7
[2] 刘新，房迎春，雷凯，付明英，郑利红，仵 春祺. W2424X射线荧光光谱仪故障分析与处理，2011（4）：103—105


Disscuss the daily fault and the processing mode of  X ray fluorescence spectrometer with the kind of Axios briefly
Li Chang1 Zhang Jing-feng 2 Sun Yong-sheng3 Yue Li-hua 4
(recycling resource development co.LTD of international DATANG in INNER MONGOLIA,
Hohhot  010206, China)
Abstract:The Frequent fault of X ray fluorescence spectrometer with the kind of  Axios was analysed , and the measures was solved together.
Keywords: X ray fluorescence spectrometer；fault handling；analysis

原文由 dahua1981(dahua1981) 发表:
是楼主原创吗

应当是的，不出意外还是第一作者呢

原文由 yuduoling(yuduoling) 发表:
支持楼主原创了

虽然是已发表的论文，但是在这里无偿分享还要是积极支持楼主的热心。

原文由 灿烂的笑容(xieyz2012) 发表:

原文由 dahua1981(dahua1981) 发表:
是楼主原创吗

应当是的，不出意外还是第一作者呢

是原创的话可以参加原创啊

发表过了也能在这参加吗？