原文由 iris999(iris999) 发表:原文由 tutm(tutm) 发表:
如果你的薄膜比较薄,象录音磁带只有几个um,可以直接贴在比色皿架上测试吸收光谱。
但是如果薄膜比较厚,可能吸光度就会很高超出仪器可测范围,这样就要象你在资料上看到的做涂膜才能测试了。
这个薄膜的厚度在涂膜的时候应该是可控的吧?我看文献上说薄膜厚度控制在10-15μm。
然后测这个薄膜的时候连同石英载玻片一起放到一个cuvette中,就可以测量出光谱了。对这个描述理解无力啊。
最后,多谢您的指点。
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如果你的薄膜比较薄,象录音磁带只有几个um,可以直接贴在比色皿架上测试吸收光谱。
但是如果薄膜比较厚,可能吸光度就会很高超出仪器可测范围,这样就要象你在资料上看到的做涂膜才能测试了。
这个薄膜的厚度在涂膜的时候应该是可控的吧?我看文献上说薄膜厚度控制在10-15μm。
然后测这个薄膜的时候连同石英载玻片一起放到一个cuvette中,就可以测量出光谱了。对这个描述理解无力啊。
最后,多谢您的指点。
涂膜可以通过刮涂厚度和溶液浓度来控制,实际厚度要在成膜前后用千分卡尺测量出来,可能需要试验多次才好掌握,不过要获得好的重现性比较难。
文献上写的涂层制备薄膜是直接涂在石英玻璃上,那就不必再放到cuvette(比色皿)中了;可以直接用胶带贴到比色皿架子上,保证光束能通过你的样品就行了,请看下图,箭头所指的是光束通路
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非常感谢 感激涕零原文由 tutm(tutm) 发表:原文由 iris999(iris999) 发表:原文由 tutm(tutm) 发表:
如果你的薄膜比较薄,象录音磁带只有几个um,可以直接贴在比色皿架上测试吸收光谱。
但是如果薄膜比较厚,可能吸光度就会很高超出仪器可测范围,这样就要象你在资料上看到的做涂膜才能测试了。
这个薄膜的厚度在涂膜的时候应该是可控的吧?我看文献上说薄膜厚度控制在10-15μm。
然后测这个薄膜的时候连同石英载玻片一起放到一个cuvette中,就可以测量出光谱了。对这个描述理解无力啊。
最后,多谢您的指点。
涂膜可以通过刮涂厚度和溶液浓度来控制,实际厚度要在成膜前后用千分卡尺测量出来,可能需要试验多次才好掌握,不过要获得好的重现性比较难。
文献上写的涂层制备薄膜是直接涂在石英玻璃上,那就不必再放到cuvette(比色皿)中了;可以直接用胶带贴到比色皿架子上,保证光束能通过你的样品就行了,请看下图,箭头所指的是光束通路