主题:【讨论】当浓度较高时进行原子发射光谱分析, 其工作曲线(lgI ~lgc)形状为什么?

浏览0 回复13 电梯直达
干好直读
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原文由 云☆飘☆逸(denx5201314) 发表:
原文由 干好直读(zhltyj) 发表:
自蚀:在光源中其中心部分激发温度高,存在较多的激发态的原子或离子,但在光源的外围,是一个低温区,含有大量基态原子,当原子或离子从光源中心所发射的谱线,其中心波长附近实际上完全被外围基态原子所吸收,被吸收的辐射由外围本身的辐射来代替,但发射很弱,不能完全补偿光源中心辐射的损失,因而在谱线中心吸收最严重,当原子浓度很高时,谱线轮廓在中央部就出现凹陷,即产生自蚀。


那自吸是不是也类似啊,比较一下可能更能理解


一般当元素含量高,原子密度增大时,产生自吸。当原子密度增大到一定程度时,自吸现象严重,谱线的峰值强度完全被吸收,这种现象称为谱线的自蚀。

可以理解为自蚀是自吸的增强版
干好直读
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candy458
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原文由 云☆飘☆逸(denx5201314) 发表:
原文由 wccd(wccd) 发表:
(1) 直线下部向上弯曲 (2) 直线上部向下弯曲
(3) 直线下部向下弯曲 (4) 直线上部向上弯曲


答案为:( 2 )


给出解释啊,为什么啊


未必是2,前提条件给的太少,各种形状皆有可能
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