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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【求助】请问上照式xrf一般采用什么样的接收探测器啊

浏览0 回复10 电梯直达
大张
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发表于：2013/07/14 08:51:11 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
用正比的还是si-pin的比较多啊，我用si-pin的探测器不管怎么样计数率始终提不上去，用正比的会好些，但是正比的分辨率又不很理想啊
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ccc888
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2013/7/14 14:36:35 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
SDD 的
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sonne86400
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2013/7/14 22:18:59 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
主要是看你目前的应用 无论是啥样探测器满足比就好 目前看来你说的两种探测器是edx和wdx之间有差的哦 不好意思打错了 十分抱歉
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2013/7/20 15:38:44 Last edit by sonne86400
loaferfdu
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2013/7/15 15:26:33 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 大张(v2760291) 发表:

用正比的还是si-pin的比较多啊，我用si-pin的探测器不管怎么样计数率始终提不上去，用正比的会好些，但是正比的分辨率又不很理想啊


EDX还是WDX啊？WDXRF的分辨率不是靠检测器，而是靠布拉格反射分光的。

EDX现在还在用正比计数器的，除了珠宝行业的简易EDXRF，很少有用正比计数器的吧。大多是半导体检测器，有Si-PIN，Si(Li)，SDD等，实际分辨率大约在140eV～250eV（5.9keV）之间。
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仗剑少年游
yue_qiu
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2013/7/19 23:40:26 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:
主要是看你目前的应用 无论是傻逼探测器满足比就好 目前看来你说的两种探测器是edx和wdx之间有差的哦


有错字吧？不带骂街的啊！

修改一下吧！
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白水山石
tianzhen
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2013/7/23 17:38:32 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这两者之间有联系吗?EDX硅探测器或锂漂移硅探测器，WDX正比计数器。
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钓鱼岛是中国的
v2645693
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2013/7/25 16:47:07 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
您的仪器可以随意更换探测器？不是很懂，让您见笑了！
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keepwork
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2013/7/29 14:57:42 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如果要提高计数率 最好使用SDD的探测器，成本相对要高点
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zbb1982
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2013/8/21 15:28:17 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 大张(v2760291) 发表:
用正比的还是si-pin的比较多啊，我用si-pin的探测器不管怎么样计数率始终提不上去，用正比的会好些，但是正比的分辨率又不很理想啊


仪器是上照式还是下照式和用什么探测器没有关系.主要根据你仪器的设计需求来定的,记数率的大小与你所使用的光管功率,准直孔的大小,探测器的面积,探测器信号的成型时间和匹配的多道处理有关,

      探测器类型:

1,计数管,分辨率不好,但是窗口面积大可以在几百mm^2,配置好的对应处理电路可以达到很高的记数率,一般在EDX里面用于贵金属测试和镀层测试都配密闭型的,记数率可达几万,在WDX里面比较常见,配流气的.记数率可达百万级别.

2,si-pin探测起，分辨率一般,窗口面积一般在6-30mm^2范围,多用于EDX的常规测试,一般不测试轻元素,范围在K-U,记数率一般在几千-几万左右.

3,SDD探测器,  分辨率好,窗口面积一般在6-30mm^2范围,多用于EDX的高端测试,可测试轻元素,范围在K-U,记数率一般在几万-几十万.如果窗口配聚脂膜的窗口的话.轻元素透过率增加,可以测试到F,由于其窗口比较容易破损和市场需求的关系,现在用的比较少.

本人对XRF有一定的了解，有应用需求,机器故障,或者是购买机器有疑惑的,学校或者科研机构做X荧光研究的,发信息给我共同交流,.大家一起学习,共同进步.
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2013/8/21 15:30:37 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
补充下SDD的测试范围Na-U,上面写错了
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大张
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2014/1/6 11:37:28 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 zbb1982(zbb1982) 发表:
原文由 大张(v2760291) 发表:
用正比的还是si-pin的比较多啊，我用si-pin的探测器不管怎么样计数率始终提不上去，用正比的会好些，但是正比的分辨率又不很理想啊


仪器是上照式还是下照式和用什么探测器没有关系.主要根据你仪器的设计需求来定的,记数率的大小与你所使用的光管功率,准直孔的大小,探测器的面积,探测器信号的成型时间和匹配的多道处理有关,

      探测器类型:

1,计数管,分辨率不好,但是窗口面积大可以在几百mm^2,配置好的对应处理电路可以达到很高的记数率,一般在EDX里面用于贵金属测试和镀层测试都配密闭型的,记数率可达几万,在WDX里面比较常见,配流气的.记数率可达百万级别.

2,si-pin探测起，分辨率一般,窗口面积一般在6-30mm^2范围,多用于EDX的常规测试,一般不测试轻元素,范围在K-U,记数率一般在几千-几万左右.

3,SDD探测器,  分辨率好,窗口面积一般在6-30mm^2范围,多用于EDX的高端测试,可测试轻元素,范围在K-U,记数率一般在几万-几十万.如果窗口配聚脂膜的窗口的话.轻元素透过率增加,可以测试到F,由于其窗口比较容易破损和市场需求的关系,现在用的比较少.

本人对XRF有一定的了解，有应用需求,机器故障,或者是购买机器有疑惑的,学校或者科研机构做X荧光研究的,发信息给我共同交流,.大家一起学习,共同进步.


是这样的EDX用正比计数器主要是提高计数率，SDD的计数率也较高但是和正比的比起来差太多了，SI-Pin的基本上没啥计数率了，但是正比计数器的解谱难度貌似很大，还不知道国内有没有高手能够做到呢，所以在探测器的选择上我很纠结。
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