主题：【讨论】针对你的应用你xrf能否完全胜任

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原文由 hlyhaha(hlyhaha) 发表:

像我们的XRF能谱仪器测P就不行，一来是标准样品中标称P的含量太低了，仪器的响应度不够。二是我们测的某一类样品中含有很高的Zr，Zr的谱线与P有部分重叠，使P测的虚高，都1% 以上。解决方法，单独拿一些标准样品建了一条专门测P的曲线，结果还是不理想，难以分辨。最后定下方法的就是P全部用的化学分析的方法测定。

测p，一般XPF都不行，不过你说干扰，我告诉你一个办法，就是把积分区间修改成不干扰的 这样会导致检出限上升，但是准确度一样也上升了。例如测Cl 一般会有惰性气体干扰，就是把测试区间缩减了 就可以了

原文由 loaferfdu(loaferfdu) 发表:

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像我们的XRF能谱仪器测P就不行，一来是标准样品中标称P的含量太低了，仪器的响应度不够。二是我们测的某一类样品中含有很高的Zr，Zr的谱线与P有部分重叠，使P测的虚高，都1% 以上。解决方法，单独拿一些标准样品建了一条专门测P的曲线，结果还是不理想，难以分辨。最后定下方法的就是P全部用的化学分析的方法测定。

ZrLa和PKa线确实靠的很近，大约差30eV，在可以预期的未来十年内，估计能谱都不能有效的分开这两个峰。

提供两个建议您可以试试看：

1. Zr的含量很高，但是含量范围比较固定，这种情况可以尝试重叠校正的方式，测试出ZrKa或者ZrKb的强度，利用含Zr不含P的样品求出重叠校正系数，扣除ZrLa对PKa的干扰；

2. 制作含Zr不同样品，利用dj模型做修正，这个办法比上述办法麻烦一些。

另外，咨询两个问题：

1. 你们为什么要测试P啊？

2. P的含量范围大概在多少？

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像我们的XRF能谱仪器测P就不行，一来是标准样品中标称P的含量太低了，仪器的响应度不够。二是我们测的某一类样品中含有很高的Zr，Zr的谱线与P有部分重叠，使P测的虚高，都1% 以上。解决方法，单独拿一些标准样品建了一条专门测P的曲线，结果还是不理想，难以分辨。最后定下方法的就是P全部用的化学分析的方法测定。

ZrLa和PKa线确实靠的很近，大约差30eV，在可以预期的未来十年内，估计能谱都不能有效的分开这两个峰。

提供两个建议您可以试试看：

1. Zr的含量很高，但是含量范围比较固定，这种情况可以尝试重叠校正的方式，测试出ZrKa或者ZrKb的强度，利用含Zr不含P的样品求出重叠校正系数，扣除ZrLa对PKa的干扰；

2. 制作含Zr不同样品，利用dj模型做修正，这个办法比上述办法麻烦一些。

另外，咨询两个问题：

1. 你们为什么要测试P啊？

2. P的含量范围大概在多少？

我们一般都要测S,P。耐火材料。 P＜0.1%

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原文由 hlyhaha(hlyhaha) 发表:

像我们的XRF能谱仪器测P就不行，一来是标准样品中标称P的含量太低了，仪器的响应度不够。二是我们测的某一类样品中含有很高的Zr，Zr的谱线与P有部分重叠，使P测的虚高，都1% 以上。解决方法，单独拿一些标准样品建了一条专门测P的曲线，结果还是不理想，难以分辨。最后定下方法的就是P全部用的化学分析的方法测定。

测p，一般XPF都不行，不过你说干扰，我告诉你一个办法，就是把积分区间修改成不干扰的 这样会导致检出限上升，但是准确度一样也上升了。例如测Cl 一般会有惰性气体干扰，就是把测试区间缩减了 就可以了

积分区间修改成不干扰的？ 这个有些不懂。。。