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主题：【讨论】XPS测量中结合能测量精度

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发表于：2014/09/09 22:28:07 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
现代X射线光电子能谱(XPS)仪器采用了单色化X射线源等新技术，结合能测量精度是多少? 例如，一般粉末样品认为0.2eV，非绝缘材料精度会高一些。电子能谱仪器的结合能测量精度对于样品之间化学态比较分析很重要。希望坛子里有人能谈谈自己在进行高精度XPS测量的经验，与大家分享。

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