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主题：【已应助】XPS过渡金属分析

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发表于：2024/07/12 00:15:43 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
分析XPS数据时候，在Avantage的数据库里，C的电和矫正用的是284.8，但我实际用的是284.6，这种情况下对于参考的金属的标准峰值需要进行调整吗？
推荐答案：JOE HUI回复于2024/07/12
需要，对于绝缘体或者半导体而言，具有荷电效应，因此除了大家想要测的元素之外，一般测试的时候还需要测一个C的高分辨谱，用于荷电校正。荷电校正一般将外来污染碳(284.8 eV)作为基准。计算荷电校正
以楼主为例，C1s的结合能为284.6eV，而外来污染碳的标准值为284.8 eV,因此，荷电校正值为284.8-284.6 eV=0.2 eV。也就是说，此次测试的这个样品，所有元素的结合能均需要+0.2 eV作为荷电校正从而得到准确的结合能值。
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JOE HUI
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2024/7/12 16:09:54 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
需要，对于绝缘体或者半导体而言，具有荷电效应，因此除了大家想要测的元素之外，一般测试的时候还需要测一个C的高分辨谱，用于荷电校正。荷电校正一般将外来污染碳(284.8 eV)作为基准。计算荷电校正
以楼主为例，C1s的结合能为284.6eV，而外来污染碳的标准值为284.8 eV,因此，荷电校正值为284.8-284.6 eV=0.2 eV。也就是说，此次测试的这个样品，所有元素的结合能均需要+0.2 eV作为荷电校正从而得到准确的结合能值。
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