应该是没有问题!
用途:
1) 样品表面元素的定性分析。hυ由X射线管的靶材料决定,Eb和Ws可由仪器测定,由式 Ek=hυ-Eb-Ws可得Eb,不同元素的Eb不同,具有特征值。利用这一原理可以分析表面化学成分;
2) 样品表面元素的定量分析:将监测信号强度转化为元素的含量,即将谱峰面积转变为相应元素的浓度;
3) 元素的深度分布分析:d=3*λsin θ
λ:光子衰减长度 θ:光电子的出射角
通过调整角度而实现对不同元素分布测定的目的;
4) 化学价态和化学结构鉴定:元素处于化合态时,电子结构能发生一些变化,造成XPS谱线的相对位移,即“化学位移”。由此可测量化合物中元素的价态。同时也可得出表面元素不同价态的相对含量。
对样品的要求:
1) 该仪器是一种超高真空的设备,所以样品的挥发性不能太大,样品不能放气量太大;
2) XPS是分析固体样品,仪器的测量深度为4nm,固体样品粒径不能太大,样品的大小一般为1mm到5mm之间,样品的表面最好要平整;
3) 由于XPS是表面分析仪器,所以对样品表面状况要求严格,不能用手触及样品表面,不然会给出一些错误信息。所以,要求样品表面一定不能污染。
4) H、He不能检测。