主题:【第十二届原创】原子力显微镜测试过程中遇到的假象

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m3242835
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        当你在进行AFM测试时,假如遇到了上面这幅图,是不是突然有种“哇塞,好规整的图案!”的感觉?

        不要高兴的太早哦!因为——你看到的可能都是假象,马上就要凉凉,不要故作不痛不痒不牵强······扯远了,这样的图很有可能是针尖污染造成的假象。那么,如何判断哪些图是真实信息,哪些图是AFM假象呢?

        AFM测试中常见的假象有这么几种情况:

        一、针尖半径大于样品引起的假象

        当样品特征比针尖更加尖锐时,假象就会出现,此时的解决办法是更换具有更小曲率半径的探针。

        二、针尖被污染或磨损引起的假象

        正如开篇的图片所示,当针尖被污染或严重磨损时,此时得到的图像大片都是规整的污染物或磨钝的针尖的图像。判断该类假象的一个比较好的办法是改变scan angle,假如scan Scan angle 调整到90°后,若图像没有变化则确定为假象。此时的解决办法有两种:1.提高扫描速度,看是否能将污染物“甩走”(探针被污染的情况下);2.更换探针。

      三、样品表面被污染引起的假象

      当扫描图片中有大片模糊不清时,极有可能是样品表面附着有污染物造成的。当针尖从样品表面扫过时,假如污染物附着不牢固,便会随针尖移动,造成扫描区域出现大片的模糊状况。此时需要更换扫描区域,甚至需要更换样品。

      因此,我们可以从选择具有合适曲率半径的探针、保持测试室及样品表面的洁净,及时更换受损探针做起,避免假象的出现,提高成像的质量。

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