主题：【求助】有没有使用精工AFM做电流成像的？请教一些问题

原文由 rapido 发表:
我这里有两台SPA400和环境SPA300HV.试过很多种探针，Au coated SI-DF3-A,SI-AF01-A; Pt coated Multi75E；Rh coated SI-DF3-R,但是只能在HOPG上测出I-V,我要测试的样品是“重掺杂硅超薄氧化层(DHF处理得到的)上的单分子层垂直方向导电性” 是不是探针不适合？还是样品导电性问题？形貌图也很垃圾，有没有有经验的同学，恳请赐教。

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我这里有两台SPA400和环境SPA300HV.试过很多种探针，Au coated SI-DF3-A,SI-AF01-A; Pt coated Multi75E；Rh coated SI-DF3-R,但是只能在HOPG上测出I-V,我要测试的样品是“重掺杂硅超薄氧化层(DHF处理得到的)上的单分子层垂直方向导电性” 是不是探针不适合？还是样品导电性问题？形貌图也很垃圾，有没有有经验的同学，恳请赐教。

原文由 rapido 发表:
hitttr，非常感谢你的帮助。HOPG上很好的IV曲线(0.2V时电流达到仪器上限100nA)，其他的只是几十pA的噪音。
你所说的第2点，我可以保证没问题。
对于第1点，单分子层有机小分子，我发现容易被针尖划掉，即使把作用力减到最小，还是不能保证不划样品。不知道大侠在探针的选择上有没有经验？
我试过你所说的第3点,同样没有改善。
我觉得问题可能出在样品的导电性上，电表测量导电的，不一定和探针导电，是不是如此呢？
曾有人试过，真空沉积的金膜，放置空气中12小时后，导电AFM就测不出I-V,这正常吗？

原文由 rapido(rapido) 发表:你好，我想问下你Au coated SI-DF3-A的探针在哪里买？还请大侠你指导我啊！
我这里有两台SPA400和环境SPA300HV.试过很多种探针，Au coated SI-DF3-A,SI-AF01-A; Pt coated Multi75E；Rh coated SI-DF3-R,但是只能在HOPG上测出I-V,我要测试的样品是“重掺杂硅超薄氧化层(DHF处理得到的)上的单分子层垂直方向导电性” 是不是探针不适合？还是样品导电性问题？形貌图也很垃圾，有没有有经验的同学，恳请赐教。

原文由 hitttr(hitttr) 发表:  你好，我想问下你Au coated SI-DF3-A的探针在哪里买？还请大侠你指导我啊！

按照你说的情况，我觉得既然能在hopg上测量出I-V，则探针肯定是导电的，
具体导电性如何，则需要看看I-V曲线，你最好能发张图上来看看；在你的样品上测得不好。我估计有以下原因：
1.扫描参数没有控制好，因为你说形貌图像也很垃圾，如果形貌图都测不好的话，电流图像自然也不会好。首先用普通模式测量，先确保形貌图正确，然后再测量导电性。

2.样品的导电性不好，或者时样品与测量电路的接触不好。此时，可以先用万用表先测量样品与测量电路的接触部分。

3.探针与样品之间的接触不好。由于针尖尖端的曲率半径很小，且镀膜的均匀性也很难保证，所以在扫描的时候，针尖与样品之间就很可能存在接触不好的情况，此时自然也就测量不到导电性。遇到这种情况，在确定针尖，样品的导电性良好的情况下，可以增大设置点，即增加针尖与样品之间的作用力，增大针尖与样品之间的接触面积，这样测量电流的时候会容易一点。

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我这里有两台SPA400和环境SPA300HV.试过很多种探针，Au coated SI-DF3-A,SI-AF01-A; Pt coated Multi75E；Rh coated SI-DF3-R,但是只能在HOPG上测出I-V,我要测试的样品是“重掺杂硅超薄氧化层(DHF处理得到的)上的单分子层垂直方向导电性” 是不是探针不适合？还是样品导电性问题？形貌图也很垃圾，有没有有经验的同学，恳请赐教。