主题:【求助】样品中存在纳米晶相和另一亚微米晶相时如何用JADE中的RIR法计算质量分数?

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xw_dzm
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我的样品中存在纳米晶相和另一亚微米晶相, 由于纳米晶导致相应衍射峰宽化及峰强降低, 请问应如何用JADE中的RIR法计算两相的质量分数? 谢谢指点!
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XRD
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可以使用面积来作为强度计算,因为,晶粒细小,衍射峰的宽度加大,同时,峰高会降低,但其总散射强度是不变的。
不过,要注意一点的是,PDF卡片上的RIR值可能会不太适应这种微细的样品了,因为RIR值所标数据是使用峰高来表示的,另一方面,RIR值也与要品的物相的状态有关。如果需要精确测量质量分数,需要自己测定RIR值。
xw_dzm
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谢谢版主指点. 是不是我不用RIR值而直接通过计算两相最强峰的面积, 得到的比值即其近似的质量分数? 谢谢!
houfeng_as
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不是直接通过计算两相最强峰的面积, 得到质量分数!而是重新测定 RIR值再计算!
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Last edit by wangrui_as
willcon
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直接通过计算两相最强峰的面积,二者对比可以大致确定二者的相对含量,但是不可以得到,二者在整个体系中的质量分数,还是需要自己测定一下RIR值,把你的二相的各自纯物质跟α-氧化铝质量比1比1混在一起测一下就行了!
xw_dzm
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十分感谢大家的指点. 我的样品是通过大变形制备的, 其中的两相很难单独制备成与样品中两相的晶粒尺寸接近的试样去重新测定RIR值. 所以用RIR值精确测量其质量分数似乎有些不太现实, 看来只能靠Rietveld去求得了, 只是自己对Rietveld法不是太熟悉. 不知是否各位有些好建议? 谢谢!
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