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透射电镜（TEM）
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主题：【讨论】FIB制备样品有很多这种黑色条条

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发表于：2022/09/16 00:30:36 楼主 管理 分享 倒序浏览 查看全部 回复 私聊
TEM 拍摄用的仪器是FEI Talos F200X，工作电压200kV，基体双束明场，忘记保存衍射照片了，所以不清楚是什么操作适量。照片的两侧是两种物相，左侧是HCP结构的析出相，右侧是BCC结构的基体。黑色条条只在BCC基体中看到，HCP析出相中很干净。
FIB制备样品使用的设备是 FEI Helios Nanolab 650，减薄先在30kV减，后用18kV减，最后用5kV清洗薄区。个人更倾向于这是由于制样过程中引入的artifacts，尚未仔细表征过这种缺陷（粗略地表征发现是平行于某些晶面的，在某些特定g下才可见，所以给位错表征带来了极大的困扰），想求助各位同行。请问这种黑色的条条到底是什么呢？该如何避免引入这样的缺陷？
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2022/9/18 7:57:26 沙发 管理 分享 倒序浏览 查看全部 回复 私聊
不知道这个样品具体是什么材料，如果是高熵合金的话，一种可能的原因是成分的起伏。高级的说法是调幅分解。如果不是这种情况，那剩下的可能就是离子束损伤。
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2022/9/22 16:30:43 板凳 管理 分享 倒序浏览 查看全部 回复 私聊
我这边遇到这种又硬又脆的样品一般是尽量磨到50微米以下。样品碎了后就选碎片。如果碎片的大小超过一毫米，就可以用双联铜网或者钼网夹住这个小片，再离子减薄。
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2022/9/23 6:18:57 马扎 管理 分享 倒序浏览 查看全部 回复 私聊
如果样品没有磁性，可以不用胶的。即使样品有磁性，夹的时候可以把样品长的方向顺着双联网的那个卡扣的方向放，如果是长条状的，则最好把条的一段卡进双联网的交接的缝里，但这就要求减的时候样品不能断开。一个双联网只能夹一个样品。如果样品硬和厚，为防止铜网被减掉，可以用钼网。反正就是根据样品的特点选不同材料和不同直径的双联网。对磁性样品，如果用胶的话，则最好在体视显微镜下操作。用医院中医用的那个针灸的针放胶。
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2022/9/23 6:21:59 地毯 管理 分享 倒序浏览 查看全部 回复 私聊
减的时候把铜网的卡扣放在夹子的夹头里面。这样减的时候卡扣不会被减坏，样品也就夹得牢。
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