主题：【分享】承接SEM、FIB-SEM、AFM、工业CT、FTIR等相关测试服务

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luckyliu881011

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发表于：2023/09/09 21:44:27 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

本公司依托计量院重点实验室,联合行业顶尖博士团队,承接SEM、FIB-SEM、AFM、工业CT、FTIR等相关测试服务并提供失效分析等行业解决方案, 应用于半导体、光电子器件、纳米科技、新能源汽车、教育及科研等多个领域

仪器介绍:

1.扫描电子显微镜（SEM）

型号: Zeiss Sigma 300

技术参数：1nm @ 15kV；1.5nm @ 1kV

适用范围：纳米级形貌观察和分析、微区成分分析

备注：可出CMA或CNAS报告

2. 聚焦离子束-扫描电子显微镜（FIB-SEM）

型号: Thermo Scientific Helios 5 CX

技术参数：0.8nm @ 15kV；0.9nm @ 1kV

适用范围：超高分辨率形貌表征、原位失效分析、透射电镜（TEM）样品制备、纳米尺度原型设计、微区成分分析

3.扫描探针显微镜（AFM）

型号: Bruker Innova

技术参数：垂直分辨率：0.01nm

适用范围：纳米级形貌表征及材料厚度测试

备注：材料厚度测试可出CMA或CNAS报告

4.三维光学轮廓仪

型号: Bruker Contour GT-X

技术参数：Z向扫描范围：0.1nm～10mm；垂直分辨率：0.01nm

适用范围：材料粗糙度、表面形貌分析及高分辨率成像

5.表面轮廓仪（台阶仪）

型号: Bruker Dektak XT

技术参数：垂直分辨率：1?

适用范围：金属蚀刻均匀性、薄膜厚度

6.工业CT

型号: YXLON FF35 CT

技术参数：细节分辨率：6μm

适用范围：孔隙缺陷分析、三维结构成像、尺寸测量、工件检测

备注：工件检测可出CMA或CNAS报告

7.同步热分析

型号: Netzsch STA449F5

技术参数：测试温度范围：室温～1600℃

适用范围：热重分析和吸放热分析

8.激光导热仪

型号: Netzsch LFA467

技术参数：测试温度范围：-100°C ～500°C；样品厚度：0.01～6 mm；样品直径：6～25.4 mm

适用范围：材料导热系数和热扩散系数

9.傅里叶变换红外光谱显微测试系统

型号: Thermo Scientific NicoletiS50

技术参数：光谱测试范围：12000～100cm^-1；反射测试角度调节范围：30～80°可调

配备显微模式，可测试反射、投射、TR模式的显微红外

适用范围：分子链结构鉴定、官能团分析、化合物定性分析、晶圆碳氧等含量及外延层膜厚分析

10.激光共聚焦显微镜

型号: Zeiss Microscope LSM 900

技术参数：最大探测深度15mm；扫描变焦倍率：0.5～40

适用范围：用于金相分析、断裂失效坑洞裂痕分析、膜厚分析、粗糙度测量等

有需要的请与我联系