主题:【已应助】关于XRD零点偏移的问题

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Ins_e239b4c5
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因为样品不能接触空气,所以用胶布密封的方式测试粉末样品的xrd(如图),但是在精修的过程中发现,因为胶布对xrd射线的影响,所有峰的位置向小角度偏移,没用胶布测试的粉末样品峰位值不偏移(用可接触空气的硅粉测试也是这样),因此能确定是胶布的影响,所以想问这种情况该如何修正峰位?

推荐答案:田仕家回复于2023/10/02
可以用内标校正,粉末整个标准硅粉混一下测完手动校准,块体用个铝箔啥的校准,只要和你待测试样峰位不重叠就行,没那么复杂。
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iangie
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哪里有影响了? 这么多年都是这么测的. 不要睁着眼睛乱说! 有的时候自己身上找原因,Sample Alignment里有没有选"Flat sample"? 粉末样品有没有填满样品槽?没填满光线align不到样品面!我真的快疯掉了。。。
Ins_e239b4c5
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原文由 iangie(iangie) 发表:
哪里有影响了? 这么多年都是这么测的. 不要睁着眼睛乱说! 有的时候自己身上找原因,Sample Alignment里有没有选"Flat sample"? 粉末样品有没有填满样品槽?没填满光线align不到样品面!我真的快疯掉了。。。
制样是按照b站上教学精修的老师要求制备的,填满并且平整,下图是同样的样品和测试条件,黄色胶带测试的样品峰位值集体左移,请问这种情况是问什么,还有就是该如何精修用黄色胶带测试的样品,在不动晶胞的前提下首先先将峰位与cif位置对齐

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2023/10/2 10:00:59 Last edit by Ins_e239b4c5
田仕家
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可以用内标校正,粉末整个标准硅粉混一下测完手动校准,块体用个铝箔啥的校准,只要和你待测试样峰位不重叠就行,没那么复杂。
iangie
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舍不得贴数据......

高角部分和低角部分偏移量相同,这种峰移不是sample displacement造成的,而是zero error零点偏移造成的.
两次扫描可能用了不同的扫描方式,或仪器状态不同.

都le bail精修下就知道是Sample Displacement 还是zero error了
Ins_98af8f52
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原文由 iangie(iangie) 发表:
舍不得贴数据......

高角部分和低角部分偏移量相同,这种峰移不是sample displacement造成的,而是zero error零点偏移造成的.
两次扫描可能用了不同的扫描方式,或仪器状态不同.

都le bail精修下就知道是Sample Displacement 还是zero error了
请问这个是什么原理啊?都le bail精修下就知道是Sample Displacement 还是zero error了
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