主题:【已应助】关于Rohs测试XRF的检出限问题

浏览0 回复3 电梯直达
Ins_bcd7d3ff
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IEC62321标准以及对应国标中有提到,XRF检出限以7次空白样本的测量值的标准差的3倍来评估,EDXRF测空白,是不是很容易测出0的结果?检出限LOD是不是很容易低到0了?
推荐答案:ztyzb回复于2023/12/15
IEC62321标准以及对应国标中有提到,XRF检出限以7次空白样本的测量值的标准差的3倍来评估,EDXRF测空白,是不是很容易测出0的结果?
楼主,不会的,样品在低浓度尤其是检出限附近时因为设备本身测量不确定度加上随机误差结果不可能一致
检出限LOD是不是很容易低到0了?
楼主,不会的
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ztyzb
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IEC62321标准以及对应国标中有提到,XRF检出限以7次空白样本的测量值的标准差的3倍来评估,EDXRF测空白,是不是很容易测出0的结果?
楼主,不会的,样品在低浓度尤其是检出限附近时因为设备本身测量不确定度加上随机误差结果不可能一致
检出限LOD是不是很容易低到0了?
楼主,不会的
yiukk
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空白不会测出0,检出限也不可能会是0。X荧光分析仪器在测试时会有散射,游离电子,线路干扰等都会出现本底,可以俗称“背景噪声 ”,加上空白中也会有重金属元素,所以测空白不会测出0。另外检出限以7次空白样本的测量值的标准差的3倍来评估,仪器测试结果受多种因素的影响,XRF本身采用计数的方法统计结果,导致每次测试都有微小差异,那标准偏差也就检出限不可能是0。
小披甲熊
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测不同的元素的LOD应该是不一样的,而且每一个样品检测都有自己的背景的,理论上样品的背景值如果低于建立曲线的标准样品的背景值时,大概率会得到零的结果的。对于XRF有自己的LOD计算方法的,对于空白样品是可以根据强度或计数来计算的。
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