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高灵敏度是质谱仪非常广泛的技术性能要求。与仪器的质量精度相比，一个经常被忽视的领域，是飞行时间高分辨质谱较低占空比从而使系统灵敏度降低。基于SCIEX ZenoTOF® 7600系统的ZenoTM trap（Zeno 阱），使得进行MS/MS扫描时，在全质量范围内提升占空比好于90%。这可以等同于系统的灵敏度提升了4-20倍。更重要的是，这样的提升没有牺牲任何关于其它系统性能。
SCIEX推出ZenoTOF 7600 系统，作为质谱创新的一次强大飞跃，这款高分辨率精确质量系统结合ZenoTMtrap(Zeno阱)技术的强大功能与电子活化解离(EAD)技术，极大提高了系统的灵敏度，并揭示日常检测中新的、罕见的甚至以前未检测到的信息。在每次实验中检测多达20倍以上的离子,并采用一系列可调碎裂技术，在每次实验中发现每个分子的新信息，提高结果的可靠性，并能快速做出更明智的决策。
关于Zeno trap技术和EAD技术的信息，如果您想了解更多，下载以下两本白皮书完整版，并可参与赢取SCIEX宣传品（蓝牙音箱、桌面吸尘器、7500/7600积木，福袋盲盒），具体活动参见以下。
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ZenoTM SWATH® DIA技术白皮书——高灵敏度全景质谱方法探索生命科学新疆界
SWATH® DIA（数据非依赖型采集）技术已成为液相色谱串联质谱联用（LC-MS/MS）的重要工作流程之一，这离不开现代质谱仪在扫描速度和灵敏度方面的显著提升。相较于传统的数据依赖型采集（DDA）方法，SWATH DIA能够以更高的重现性完成大量蛋白质、多肽和代谢物的鉴定。使用SWATH DIA技 术获取的优质、高分辨率MS/MS数据不仅可以用于蛋白质的鉴定，还可用于高精准度的定量分析。
该白皮书回顾了ZenoTM SWATH® DIA背后的技术创新，以及令该技术成为现实的质谱关键性能属性。本白皮书中还展示了诸多例证，证明ZenoTM SWATH DIA技术能以非凡的高通量和精准度，对痕量水平的分析物进行定性与定量。
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