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主题：高分子膜的SEM图片处理，需要用到图像灰度与实际表面突起高度的关系，

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feitianxiuluo
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发表于：2006/06/01 09:33:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
悬赏金额：20积分 状态： 未解决
各位＂大虾＂，那位能给小弟点帮助。我现在在作高分子膜的SEM图片处理，需要用到图像灰度与实际表面突起高度的关系，那位功力深厚的＂大虾＂帮帮忙，指点一下小弟，不胜感激！！如果是直线关系，请告诉我公式，如果是非线性关系，请附上曲线图.再次表示感谢！！！！！！！
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2009/12/18 11:01:08 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我还没见用好过这种图像软件的
有些号称可以做3D模拟，也就是面强度分析，基本依据二次电子图像灰度值来做的表面凹凸立体结构，
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fengyonghe
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2009/12/19 3:45:08 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 (feitianxiuluo) 发表:
各位＂大虾＂，那位能给小弟点帮助。我现在在作高分子膜的SEM图片处理，需要用到图像灰度与实际表面突起高度的关系，那位功力深厚的＂大虾＂帮帮忙，指点一下小弟，不胜感激！！如果是直线关系，请告诉我公式，如果是非线性关系，请附上曲线图.再次表示感谢！！！！！！！

这是2006年的问题，看上面说“未解决”，就说一下吧。
要解决的问题是：“需要用到图像灰度与实际表面突起高度的关系”。先说结论是，“图像灰度与实际表面突起高度”之间没有对应关系，更不存在定性的数学表达式。而是，图像灰度与实际表面由于表面起伏、凸凹而产生的微区表面倾斜有直接关系。这包括微区表面倾斜的角度和倾斜的方向，这是产生扫描图像形貌特征的最重要因素。我想任何一本关于扫描电镜的书都可以找到这个结论。
举个例子。典型的一种解理断口是河流花样。河流花样之间的许多解理小平面都存在有高度差，但在同一个解理面上的许多不同高度的解理小平面都具有相同的灰度。
所以结论就是上面所说的了。
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Last edit by fengyonghe
手机版： 高分子膜的SEM图片处理，需要用到图像灰度与实际表面突起高度的关系，
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