主题:【求助】SEM的能谱能准确测微晶硅薄膜中的氢、氧含量吗?

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kongkongdao
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SEM的能谱能准确测微晶硅薄膜中的氢、氧含量吗?
请前辈指教
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怪味陈皮
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原文由 kongkongdao 发表:
SEM的能谱能准确测微晶硅薄膜中的氢、氧含量吗?
请前辈指教

只能作 氧的定性, 不能定量。
氢是无能为力的, 建议求助于化学方法。
hangk2006
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jzhx68
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氢核外只有一个电子,不可能产生电子的跃迁,所以没有X光子产生,不能进行能谱分析。
氧是轻元素,只能进行定性分析,虽然很多能谱软件都有轻元素的校准软件,但结果也是自己知道。
wzhgp
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wzhgp
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