主题：【求助】关于F-4500出现的倍频峰的问题

原文由 westyouday 发表:
1、例如：使用日立的f4500荧光分光光度计，测试固体样品，设定激发波长在254nm，在发射光谱中在510nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的峰，不知道如何去除这个峰，因为样品的发射峰也在这个谱段，这个尖锐的峰在样品的两个发射峰之间。
2、例如：使用日立的f4500荧光分光光度计，测试固体样品，设定发射波长在545nm，在激发光谱中在270nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的激发峰，由于样品的激发峰是在220nm-300nm之间的一个包，这个尖锐的峰正好叠加在样品的激发峰上，如何去除这个峰，应该怎么处理这个峰，处理这个谱图才比较合理？

谢谢各位！！

原文由 westyouday 发表:
1、例如：使用日立的f4500荧光分光光度计，测试固体样品，设定激发波长在254nm，在发射光谱中在510nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的峰，不知道如何去除这个峰，因为样品的发射峰也在这个谱段，这个尖锐的峰在样品的两个发射峰之间。
2、例如：使用日立的f4500荧光分光光度计，测试固体样品，设定发射波长在545nm，在激发光谱中在270nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的激发峰，由于样品的激发峰是在220nm-300nm之间的一个包，这个尖锐的峰正好叠加在样品的激发峰上，如何去除这个峰，应该怎么处理这个峰，处理这个谱图才比较合理？

谢谢各位！！

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1、例如：使用日立的f4500荧光分光光度计，测试固体样品，设定激发波长在254nm，在发射光谱中在510nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的峰，不知道如何去除这个峰，因为样品的发射峰也在这个谱段，这个尖锐的峰在样品的两个发射峰之间。
2、例如：使用日立的f4500荧光分光光度计，测试固体样品，设定发射波长在545nm，在激发光谱中在270nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的激发峰，由于样品的激发峰是在220nm-300nm之间的一个包，这个尖锐的峰正好叠加在样品的激发峰上，如何去除这个峰，应该怎么处理这个峰，处理这个谱图才比较合理？

谢谢各位！！

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1、例如：使用日立的f4500荧光分光光度计，测试固体样品，设定激发波长在254nm，在发射光谱中在510nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的峰，不知道如何去除这个峰，因为样品的发射峰也在这个谱段，这个尖锐的峰在样品的两个发射峰之间。
2、例如：使用日立的f4500荧光分光光度计，测试固体样品，设定发射波长在545nm，在激发光谱中在270nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的激发峰，由于样品的激发峰是在220nm-300nm之间的一个包，这个尖锐的峰正好叠加在样品的激发峰上，如何去除这个峰，应该怎么处理这个峰，处理这个谱图才比较合理？

谢谢各位！！

是倍频峰，很强的，太强了对仪器的检测器会有损伤的。加高通滤光片啊，300nm的，什么问题都能解决。