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ID:guanjun19860820
行业:其他
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ID:syning90
ID:srd2009
原文由 guanjun19860820(guanjun19860820) 发表:,在背散射模式下,能否用能谱,对仪器有伤害不?听说在背散射下,真空度不高,能谱X射线会受影响?各位大侠出来讨论下!
ID:hui7808
原文由 syning90(syning90) 发表:背散射和二次电子的转换改变的只是探头,对于真空度没有任何影响,个人觉得这和用能谱也没有什么影响。样品在电子束的作用下,二次电子,本散射电子以及特征x射线都被激发出来,只是用不同的探头来观测罢了。
ID:golf
原文由 golf(golf) 发表:背散射电子探头和能谱配合使用是很重要的功能啊,怎么不能同时工作呢?第一次听到这样观点。
ID:airy
ID:jzhx68
原文由 golf(golf) 发表:有些电镜的背散射探头体积比较大,还是有可能挡到能谱探头的
原文由 驰奔(srd2009) 发表:原文由 golf(golf) 发表:有些电镜的背散射探头体积比较大,还是有可能挡到能谱探头的罗宾逊背散射探测器体积比较大,但从几何接收角度一般不会互相干扰!